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辐射效应对模拟电路可靠性的影响分析

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分析了空间辐射环境对模拟电路形成的典型辐射效应,总结了各种效应的损伤模式及其影响因素,讨论了其对电路系统可靠性的影响,并提出在空间环境下提高模拟电路可靠性的应用设计方法,供设计人员参考.

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来源
《质量与可靠性》 |2013年第6期|7-10,19|共5页
作者
王义元; 赵志明; 柳征勇;
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作者单位

上海宇航系统工程研究所,上海201109;

上海宇航系统工程研究所,上海201109;

上海宇航系统工程研究所,上海201109;

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正文语种 chi
中图分类
关键词
模拟电路; 辐射效应; 损伤分析;

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