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李雪萍; 丁桂甫; 安藤妙子; 式田光宏; 佐藤一雄;
上海交通大学 微纳科学技术研究院 薄膜与微细技术教育部重点实验室微米/纳米加工技术国家级重点实验室,上海 200030;
名古屋大学 微纳系统工程系,名古屋 日本;
名古屋大学,微纳系统工程系,名古屋,日本;
微机电系统; 力学性能; 薄膜; 拉伸试验;
机译:评估薄膜真空MEMS封装的测试方法
机译:基于MEMS的自敏压电微悬臂梁对Pb(Zr,Ti)O {sub} 3薄膜的疲劳测试方法
机译:用于测量多层MEMS力学性能的M测试方法
机译:合金化对微电子和MEMS / NEMS应用中贵金属薄膜力学性能的影响
机译:基于MEMS的测试元件研究CaTiO3掺杂的(KNa)NbO3薄膜的材料常数
机译:mEms材料的力学性能
机译:MEMS装置的剥离测试方法,MEMS装置的剥离测试方法及其MEMS装置
机译:建立了至少一种表征材料粘弹性的材料力学性能的测量方法,以及一种进行这种方法的装置
机译:反应堆中子辐照下结构材料力学性能测试方法及装置
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