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唐祯安; 黄正兴; 顾毓沁; 朱德忠;
大连理工大学电子工程系,辽宁,大连,116024;
清华大学工程力学系,北京,100084;
薄膜; 热物性; 测试方法; MEMS;
机译:光学微桨束偏转测量,用于纳米级薄膜在MEMS中的静电力学测试
机译:超薄碳基薄膜和MoST薄膜的纳米机械和纳米摩擦学测试,可提高MEMS耐久性
机译:岩土热物性参数测试的影响因素
机译:MEMS阀中的薄膜镍钛和薄膜起皱控制。
机译:基于MEMS的测试元件研究CaTiO3掺杂的(KNa)NbO3薄膜的材料常数
机译:mEms陀螺动态特性测试方法研究
机译:利用瞬态技术进行热物性测试
机译:MEMS技术制造的测试插座薄膜中的单个行程增强弹性体
机译:方法研究了影响含有__________的薄膜中物质含量的因素。
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