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4H-SiC ICP深刻蚀工艺研究

     

摘要

SiC是一种新型的半导体材料,由于化学性质十分稳定,目前还未发现有哪种酸或碱能在室温下对其起腐蚀作用,因此,在SiC的加工工艺中常采用干法刻蚀.采用GSE 200plus刻蚀机对SiC进行刻蚀,研究了刻蚀气体、源功率RF1、射频功率RF2及腔室压强对刻蚀结果的影响,并对产生的结果进行了相关分析.提出了一种SiC ICP深刻蚀方法,对SiC深刻蚀技术具有重要的指导意义.

著录项

  • 来源
    《传感器与微系统》 |2014年第10期|8-10|共3页
  • 作者单位

    中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,山西太原030051;

    中北大学电子测试技术国防科技重点实验室,山西太原030051;

    中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,山西太原030051;

    中北大学电子测试技术国防科技重点实验室,山西太原030051;

    中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,山西太原030051;

    中北大学电子测试技术国防科技重点实验室,山西太原030051;

    中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,山西太原030051;

    中北大学电子测试技术国防科技重点实验室,山西太原030051;

    中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,山西太原030051;

    中北大学电子测试技术国防科技重点实验室,山西太原030051;

    中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,山西太原030051;

    中北大学电子测试技术国防科技重点实验室,山西太原030051;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 光源;
  • 关键词

    SiC; ICP深刻蚀; 刻蚀气体; 源功率RF1; 射频功率RF2; 腔室压强;

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