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吴琳;
辽宁开放大学;
芯片测试; 开短路测试; 功能测试; LK8810S平台;
机译:电路板上带有集成电路的芯片测试以及燃烧期间的测试集成电路芯片的主板测试和老化测试罗马尼亚语全文
机译:新的缺陷尺寸分布函数,用于估计集成电路成品率模型(CMOS)中的芯片临界面积
机译:用于低成本集成电路测试的测试芯片设计
机译:采用片上测试芯片以最大程度地提高28nm零件的参数成品率
机译:一种用于集成电路制造过程评估,问题诊断和成品率分析的测试方法和测试芯片设计策略。
机译:方案:网络戏剧录像带对男同性恋双性恋和酷儿中的HIV和其他性传播感染测试的影响:新加坡一项基于社区务实的随机对照试验的研究方案:像我们这样的人(PLU)评估研究
机译:通过使用超热导率材料和镜面成品硅,降低芯片测试技术的热阻
机译:集成电路芯片的测试方法
机译:一种用于测试具有至少两个电路核心的集成电路芯片的方法以及集成电路芯片和测试系统
机译:集成电路芯片的LSI测试座及集成电路芯片的测试方法
机译:用于测试和/或固定用于集成电路制造的硅晶片的方法,包括通过与晶片或处理芯片的另一不同芯片进行非接触式通信来测试和/或固定晶片的芯片。
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