高速数电芯片参数测试方案优化研究

摘要

为了解决高速数电芯片测试速度慢、测试精度低的问题,提出一种利用LK88系列测试平台对集成电路高速数电芯片参数进行有效测试的方法.该测试方案通过对高速数电芯片SN74HC138的测试,可以实现快速筛出失效芯片、进行功能验证、对高速数电芯片的直流参数进行精准测试,最后通过上位机直观显示出来.测试过程易于操作、增强了可读性.与芯片Spec参数标准对比分析后可以得出测试精准性也有效提高.因为缩短了整体测试时长,并且精度提高,对于提升集成电路产业链经济效益方面具有积极影响.