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戴嘉维; 孔明;
上海交通大学材料学院-Buehler公司联合实验室;
薄膜; 截面TEM样品制备; 超晶格;
机译:沉积在金属基底上的薄膜截面TEM样品的改进制备方法
机译:用于沉积在聚合物基材上的金属薄膜横截面的另一种FIB TEM样品制备方法(会议论文)
机译:优化制备有机薄膜的横截面TEM样品
机译:使用FIB技术制备的多层薄膜的横截面TEM样品
机译:用于TEM分析的碳纳米管复合样品制备的切片机切割工艺的改进。
机译:化学抛光在锆合金TEM样品制备中的应用
机译:用于原位TEM应变实验的H型钢横截面样品的制备:基于FIB的方法应用于氮化的Ti-6Al-4V合金
机译:自支撑金属多层膜的横截面TEm样品制备。
机译:TEM样品制备方法,TEM样品和薄截面样品
机译:双截面薄膜样品的弹性模量的测量方法,双截面薄膜样品的热膨胀模量的测量,弹性模量和薄膜的热膨胀模量的测量方法,热膨胀模量和用于测量的仪器
机译:用于在无损伤样品的情况下将样品保护层涂覆到时间间隔较短的涂层上的装置和方法,以用于制造用于TEM分析的样品和用于TEM分析的形式样品
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