Composite Materials; Copper; EDB/360601; Electroplating; Experimental Data; Films; Machining; Meetings; Sample Preparation; Stainless Steels; Tables(data); Transmission Electron Microscopy;
机译:沉积在金属基底上的薄膜截面TEM样品的改进制备方法
机译:用FIB制备金属材料TEM样品时FIB引起的损伤的TEM研究
机译:用于原位TEM应变实验的H型钢横截面样品的制备:基于FIB的方法应用于氮化的Ti-6A1-4V合金
机译:使用FIB的W / B_4C多层样品的横截面TEM样品制备
机译:TEM样品制备过程中硅中聚焦离子束损伤的计算和实验量化。
机译:等离子体纳米粒子的多重TEM样品制备与分析
机译:用于原位TEM应变实验的H型钢横截面样品的制备:基于FIB的方法应用于氮化的Ti-6Al-4V合金