机译:用于原位TEM应变实验的H型钢横截面样品的制备:基于FIB的方法应用于氮化的Ti-6A1-4V合金
CEMES/CNRS, BP 94347, 31055 Toulouse Cedex 4, France,INSA de Rennes, UMR CNRS 6226 SCR/Chimie-Metallurgie, 20 avenue des Buttes de Coesmes, CS70839, 35708 Rennes Cedex 7, France;
CEMES/CNRS, BP 94347, 31055 Toulouse Cedex 4, France;
in situ straining; transmission electron microscopy (TEM); focused ion beam (FIB); dislocation dynamics; titanium alloy; nitridation;
机译:采用新型FIB设计的聚酰亚胺上铝膜原位TEM应变实验
机译:使用新型FIB设计的聚酰亚胺上铝膜原位TEM应变实验
机译:原子探针基于FIB的样品制备方法综述
机译:“ H型杆提起”和“平面图提起”:用于异位横截面和平面图FIB样品制备的坚固,可重新薄化的FIB-TEMPreparation
机译:研究用于锆基合金的腐蚀行为的原位TEM技术的发展
机译:一种快速和植入的样品生产方法用于大型电子透明金属样品用于基于MEMS的原位S / TEM实验
机译:用于原位TEM应变实验的H型钢横截面样品的制备:基于FIB的方法应用于氮化的Ti-6Al-4V合金
机译:自支撑金属多层膜的横截面TEm样品制备。