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Ultramicroscopy

Ultramicroscopy

SCIEIMEDLINECA

中文名称：超显微镜

ISSN：0304-3991
出版周期：Monthly

发文量：2865

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1.Simulation in elemental mapping using aberration-corrected electron microscopy

机译：使用像差校正电子显微镜的元素映射中的仿真
- 作者：L.J. Allen
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
2.Accurate measurement of strain at interfaces in 4D-STEM: A comparison of various methods

机译：在4D-茎中的界面中精确测量应变：各种方法的比较
- 作者：Mahr Christoph;Muller-Caspary Knut;Grieb Tim;Krause Florian F.;Schowalter Marco;Rosenauer Andreas
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2021年第1期
- Strain measurement;
- Ptychography;
- Interface;
- 4D-STEM;
- Patterned apertures;
3.AFM reconstruction of complex-shaped chiral plasmonic nanostructures

机译：复合形手性等离子体纳米结构的AFM重建
- 作者：A.V. Kondratov;O.Y. Rogov;R.V. Gainutdinov
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Atomic force microscopy;
- Focused ion beam;
- Plasmonic structures;
- Post-processing;
4.Enhancement of low-spatial-frequency components by a new phase-contrast STEM using a probe formed with an amplitude Fresnel zone plate

机译：使用具有振幅菲涅耳区板的探针通过新相位对比度提高低空间频率分量
- 作者：Tomita Masato;Nagatani Yukinori;Murata Kazuyoshi;Momose Atsushi
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2020年第1期
- Fresnel zone plate;
- Phase-contrast microscopy;
- STEM;
- Focused ion beam;
- Structured probe;
5.Spectral DQE of the Volta phase plate

机译：Volta相板的光谱DQE
- 作者：Buijsse Bart;Trompenaars Piet;Altin Veli;Danev Radostin;Glaeser Robert M.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2020年第1期
6.The impact of STEM aberration correction on materials science

机译：茎畸变矫正对材料科学的影响
- 作者：Stephen J. Pennycook
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Scanning transmission electron microscope;
- Incoherent imaging;
- Z-contrast;
- Atomic resolution;
- Aberration correction;
7.Low terahertz-band scanning near-field microscope with 155-nm resolution

机译：低太赫兹带扫描近场显微镜，具有155纳米分辨率
- 作者：Dai Guangbin;Wang Jie;Zhang Xiaoxuan;Chang Tianying;Cui Hong-Liang
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2021年第1期
- Low terahertz-band;
- Near-field;
- Background scattering;
- Antenna theory;
- Mixer demodulation;
8.EBSD pattern simulations for an interaction volume containing lattice defects

机译：含有晶格缺陷的交互卷的EBSD模式模拟
- 作者：Zhu Chaoyi;De Graef Marc
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2020年第1期
- EBSD pattern simulation;
- HR-EBSD;
- Interaction volume;
- Threading dislocation;
9.Photonic and plasmonic surface field distributions characterized with normal- and oblique-incidence multi-photon PEEM

机译：光子和等离子体表面场分布以正常和斜发射多光子PEEM为特征。
- 作者：Robert C. Word;Rolf K?nenkamp
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Photoemission electron microscopy;
- Non-linear imaging;
- Multi-photon excitation;
- Surface plasmon polaritons;
10.Dynamical scattering image simulations for two-phase γ– γ′ microstructures: A theoretical model

机译：两相γ - γ'微观结构：理论模型的动态散射图像模拟
- 作者：S. Singh;M.J. Mills;M. De Graef
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
- Dynamical scattering;
- Two-phase microstructure;
- Image simulation;
- Scattering matrix;
11.Application of EELS and EFTEM to the life sciences enabled by the contributions of Ondrej Krivanek

机译：EELS和EFTEM在ondrej Krivanek贡献实现生命科学的应用
- 作者：Richard D. Leapman
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
12.A novel electron mirror pulse compressor

机译：一种新型电子镜脉冲压缩机
- 作者：M. Mankos;K. Shadman;B.J. Siwick
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
13.Amusement for couch potatoes

机译：沙发土豆的娱乐
- 作者：Hawkes P. W.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
14.Growth and motion of liquid alloy droplets of Au on Ge(110)

机译：Au in Ge液体合金液滴的生长和运动（110）
- 作者：B.H. Stenger;A.L. Dorsett;J.H. Miller;E.M. Russell;C.A. Gabris;S. Chiang
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
15.Analysis the effect of different geometries of AFM's cantilever on the dynamic behavior and the critical forces of three-dimensional manipulation

机译：AFM悬臂不同几何形状对三维操作的动态行为和临界力的影响
- 作者：Korayem Moharam Habibnejad;Saraie Maniya B.;Saraee Mahdieh B.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
16.Assessment of engineered surfaces roughness by high-resolution 3D SEM photogrammetry

机译：高分辨率3D SEM摄影测量评估工程表面粗糙度
- 作者：Gontard L. C.;Lopez-Castro J. D.;Gonzalez-Rovira L.;Vazquez-Martinez J. M.;Varela-Feria F. M.;Marcos M.;Calvino J. J.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Photogrammetry;
- 3DSEM;
- Stereo-photogrammetry;
- Profilometry;
- SEM metrology;
- Patterned surfaces;
- Roughness;
17.Analysis of electron energy loss spectroscopy data using geometric extraction methods

机译：使用几何提取方法分析电子能损光谱数据
- 作者：Spiegelberg Jakob;Rusz Jan;Thersleff Thomas;Pelckmans Kristiaan
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- RVCA;
- Geometric extraction methods;
- EELS;
- Blind source separation;
- Data clustering;
18.Measuring nanometre-scale electric fields in scanning transmission electron microscopy using segmented detectors

机译：使用分段探测器测量扫描透射电子显微镜的纳米级电场
- 作者：H.G. Brown;N. Shibata;H. Sasaki;T.C. Petersen;D.M. Paganin;M.J. Morgan;S.D. Findlay
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
19.Numerical modeling of specimen geometry for quantitative energy dispersive X-ray spectroscopy

机译：定量能量分散X射线光谱法的标本几何形状的数值模拟
- 作者：Xu W.;Dycus J. H.;LeBeau J. M.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
20.Effect of the van der Waals interaction on the electron energy-loss near edge structure theoretical calculation

机译：Van der Wa的效果相互作用对边缘结构附近的电子能量损失的理论计算
- 作者：Katsukura Hirotaka;Miyata Tomohiro;Tomita Kota;Mizoguchi Teruyasu
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- ELNES;
- First principles calculation;
- van der Waals interaction;
- Excited state;
21.Complementary LEEM and eV-TEM for imaging and spectroscopy

机译：互补leem和ev-tem用于成像和光谱
- 作者：Neu Peter S.;Geelen Daniel;Thete Aniket;Tromp Rudolf M.;van der Molen Sense Jan
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2021年第1期
22.Fast and reliable pre-approach for scanning probe microscopes based on tip-sample capacitance

机译：基于尖端样品电容扫描探针显微镜的快速可靠的预接近方法
- 作者：J.M. de Voogd;M.A. van Spronsen;F.E. Kalff;B. Bryant;O. Ostoji?;A.M.J. den Haan;I.M.N. Groot;T.H. Oosterkamp;A.F. Otte;M.J. Rost
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Capacitance measurements;
- Scanning probe microscope;
- Scanning tunneling microscope;
- Nano-positioning;
- Stepping motor;
- Coarse approach;
23.Correlative micro-diffraction and differential phase contrast study of mean inner potential and subtle beam-specimen interaction (vol 177, pg 1, 2017)

机译：平均内部电位和微妙光束样品相互作用的相关微衍射和差分相位对比度研究（Vol 177，PG 1，2017）
- 作者：Wu Mingjian
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
24.Optimized pre-thinning procedures of ion-beam thinning for TEM sample preparation by magnetorheological polishing

机译：通过磁流变抛光进行TEM样品制备的离子束稀薄的优化预薄程序
- 作者：Hu Luo;Shaohui Yin;Guanhua Zhang;Chunhui Liu;Qingchun Tang;Meijian Guo
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Transmission electron microscopy;
- Sample preparation technique;
- Ion milling;
- Pre-thinning;
- Magnetorheological polishing;
25.Three-dimensional analysis of Eu dopant atoms in Ca-alpha-SiAlON via through-focus HAADF-STEM imaging

机译：通过聚焦HAADF-STEM成像通过聚焦欧盟掺杂原子的三维分析
- 作者：Saito Genki;Yamaki Fuuta;Kunisada Yuji;Sakaguchi Norihito;Akiyama Tomohiro
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Dopant distribution;
- Through-focus;
- STEM;
- HAADF;
- Phosphor;
- SiAlON;
- Image simulation;
- Aberration correction;
26.Variation of field enhancement factor near the emitter tip

机译：发射极尖端附近现场增强因子的变化
- 作者：Debabrata Biswas;Gaurav Singh;Shreya G. Sarkar;Raghwendra Kumar
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
27.The behavior of Fowler-Nordheim plot from carbon nanotubes-based large area field emitters arrays

机译：碳纳米管的大面积场发射器阵列福勒 - 诺德海姆图的行为
- 作者：Al-Tabbakh Ahmed A.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2020年第1期
- Field electron emission;
- Fowler-Nordheim plot;
- Carbon nanotubes;
- Large area field emitters;
28.Strain measurement of 3D structured nanodevices by EBSD

机译：EBSD的3D结构纳米纳米纳米纳米纳米型的应变测量
- 作者：Osborn William;Friedman Lawrence H.;Vaudin Mark
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
- EBSD;
- Strain;
- Strain measurement;
- Cross-correlation;
- Electron backscatter diffraction;
- Nanoscale;
- SiGe;
- Silicon;
29.Developing an in situ environmental TEM set up for investigations of resistive switching mechanisms in Pt-Pr1-xCaxMnO3-delta-Pt sandwich structures

机译：开发原位环境TEM设置，用于研究PT-PR1-XCAXMNO3-DELTA-PT夹层结构的电阻切换机制
- 作者：Kramer Thilo;Mierwaldt Daniel;Scherff Malte;Kanbach Mike;Jooss Christian
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
- In situ environmental TEM;
- Resistive switching;
- EELS;
- Manganites;
- Oxygen vacancies;
30.Digital holographic microscopy for 3D surface characterization of polymeric nanocomposites

机译：聚合物纳米复合材料的3D表面表征数字全息显微镜
- 作者：Vahid Abbasian;Ehsan A. Akhlaghi;Mohammad A. Charsooghi;Maasoomeh Bazzar;Ali-Reza Moradi
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
- Digital holographic microscopy;
- Surface characterization;
- Polymeric nanocomposites;
31.Precise measurement of the electron beam current in a TEM

机译：精确测量TEM中的电子束电流
- 作者：Krause Florian F.;Schowalter Marco;Oppermann Oliver;Marquardt Dennis;Mueller-Caspary Knut;Ritz Robert;Simson Martin;Ryll Henning;Huth Martin;Soltau Heike;Rosenauer Andreas
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2021年第1期
- Current measurement;
- TEM;
- Quantitative STEM;
- HAADS;
- Faraday cup;
- Zeta factor;
- Accidental electrons;
32.Pulsed-voltage atom probe tomography of low conductivity and insulator materials by application of ultrathin metallic coating on nanoscale specimen geometry

机译：通过在纳米级标本几何上施加超薄金属涂层的低电导率和绝缘子材料的脉冲电压原子探测层析术
- 作者：Vahid R. Adineh;Ross K.W. Marceau;Yu Chen;Kae J. Si;Tony Velkov;Wenlong Cheng;Jian Li;Jing Fu
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Atom probe tomography;
- Physical vapor deposition;
- Nanospheres;
33.EDS tomographic reconstruction regularized by total nuclear variation joined with HAADF-STEM tomography

机译：通过总核变异与Haadf-Step断层扫描的总核变异进行编辑断层切断重建
- 作者：Zhong Zhichao;Palenstijn Willem Jan;Adler Jonas;Batenburg K. Joost
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
34.New instrumentation and cutting edge research

机译：新仪表和尖端研究
- 作者：A. Howie
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
35.Analytical transmission cross-coefficients for pink beam X-ray microscopy based on compound refractive lenses

机译：基于复合折射透镜的粉红色梁X射线显微镜的分析传导交叉系数
- 作者：Falch Ken Vidar;Detlefs Carsten;Snigirev Anatoly;Mathiesen Ragnvald H.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
36.Comparison of dislocation characterization by electron channeling contrast imaging and cross-correlation electron backscattered diffraction

机译：电子信道对比度成像和互相关电子反向散射衍射比较脱位表征
- 作者：Dunlap Bret E.;Ruggles Timothy J.;Fullwood David T.;Jackson Brian;Crimp Martin A.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
- ECCI;
- CC-EBSD;
- HR-EBSD;
- EBSD dislocation microscopy;
- Dislocations;
- Nanoindentation;
37.Support vector machine for EELS oxidation state determination

机译：支持向量机用于鳗氧化状态测定
- 作者：del-Pozo-Bueno D.;Peiro F.;Estrade S.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2021年第1期
- Electron Energy-Loss Spectroscopy;
- Machine Learning;
- Support Vector Machine;
- Transition Metals;
- Iron Oxides;
- Manganese Oxides;
38.Evaluation of high-quality image reconstruction techniques applied to high-resolution Z-contrast imaging

机译：评估高质量的图像重建技术应用于高分辨率Z-对比度成像
- 作者：G. Bárcena-González;M.P. Guerrero-Lebrero;E. Guerrero;A. Ya?ez;D. Fernández-Reyes;D. González;P.L. Galindo
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- High quality image reconstruction;
- Registration;
- restoration;
- Z-contrast images;
39.STEMsalabim: A high-performance computing cluster friendly code for scanning transmission electron microscopy image simulations of thin specimens

机译：Stemsalabim：一种高性能计算聚类友好型号，用于扫描透射电子显微镜图像模拟薄样本
- 作者：Oelerich Jan Oliver;Duschek Lennart;Belz Juergen;Beyer Andreas;Baranovskii Sergei D.;Volz Kerstin
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Multislice simulations;
- Electron scattering factors;
- MPI;
- Phonons;
40.Imaging with straight-edge phase plates in the TEM

机译：在TEM中与直边相位板成像
- 作者：C.J. Edgcombe
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Phase plate;
- Foucault plate;
- Hilbert plate;
- Fourier–Bessel transform;
- 2D transform;
41.Origin of atomic displacement in HAADF image of the tilted specimen

机译：倾斜标本Haadf图像中原子位移的起源
- 作者：J. Cui;Y. Yao;Y.G. Wang;X. Shen;R.C. Yu
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- STEM;
- HAADF;
- Polarization;
42.Foreword for the special issue on the Tenth International Workshop on Low Energy Electron Microscopy and Photoemission Electron Microscopy

机译：在低能电子显微镜和光曝光电子显微镜下对第十国际车间的特殊问题推荐
- 作者：Andreas Schmid;Andreas Scholl
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
43.Atomic-scale structure relaxation, chemistry and charge distribution of dislocation cores in SrTiO3

机译：SRTIO3中脱位核心的原子尺度结构松弛，化学和电荷分布
- 作者：Gao Peng;Ishikawa Ryo;Feng Bin;Kumamoto Akihito;Shibata Naoya;Ikuhara Yuichi
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
44.Fine tuning an aberration corrected ADF-STEM

机译：微调畸变纠正ADF-Stem
- 作者：Kirkland Earl J.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
- STEM;
- ADF-STEM;
- Aberration corrector;
- Autofocus;
- Tuning;
45.Denoising time-resolved microscopy image sequences with singular value thresholding

机译：具有奇异值阈值阈值的去噪时间分辨显微镜图像序列
- 作者：Furnival Tom;Leary Rowan K.;Midgley Paul A.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Time-resolved imaging;
- Scanning transmission electron microscopy;
- Annular dark-field imaging;
- Denoising;
46.Improved simulation based HR-EBSD procedure using image gradient based DIC techniques

机译：基于图像梯度的DIC技术改进了基于仿真的HR-EBSD过程
- 作者：Jon Alkorta;Matthieu Marteleur;Pascal J. Jacques
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
47.Electronic structure of metastable bcc Cu-Cr alloy thin films: Comparison of electron energy-loss spectroscopy and first-principles calculations

机译：亚料BCC Cu-Cr合金薄膜的电子结构：电子能损光谱和第一原理计算的比较
- 作者：Liebscher C. H.;Freysoldt C.;Dennenwaldt T.;Harzer T. P.;Dehm G.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- bcc-Cu;
- Thin film;
- Electron energy loss spectroscopy;
- Density functional theory;
- Electronic structure;
48.Atomic resolution HOLZ-STEM imaging of atom position modulation in oxide heterostructures

机译：原子分辨率Holz-茎干成像在氧化物异质结构中的原子位置调节
- 作者：Nord Magnus;Barthel Juri;Allen Christopher S.;McGrouther Damien;Kirkland Angus I;MacLaren Ian
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2021年第1期
49.Transition radiation in EELS and cathodoluminescence

机译：鳗鱼和阴极发光的过渡辐射
- 作者：Stoeger-Pollach Michael;Kachtik Lukas;Miesenberger Bernhard;Retzl Philipp
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Transition radiation;
- EELS;
- Cathodoluminescence;
50.Streamlined approach to mapping the magnetic induction of skyrmionic materials

机译：简化绘制抗液体材料磁诱导的方法
- 作者：Chess Jordan J.;Montoya Sergio A.;Harvey Tyler R.;Ophus Colin;Couture Simon;Lomakin Vitaliy;Fullerton Eric E.;McMorran Benjamin J.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
51.Characterization of misfit dislocations in Si quantum well structures enabled by STEM based aberration correction

机译：基于茎的像差校正使得Si量子阱结构中错位错位的表征
- 作者：Philip E. Batson;Maureen J. Lagos
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Aberration correction;
- EELS;
- HAADF;
- Misfit dislocations;
- Dislocation structure;
- Phonon;
52.Stereo-vision three-dimensional reconstruction of curvilinear structures imaged with a TEM

机译：TEM成像曲线结构的立体视觉三维重建
- 作者：Oveisi Emad;Letouzey Antoine;De Zanet Sandro;Lucas Guillaume;Cantoni Marco;Fua Pascal;Hebert Cecile
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
- TEM;
- Stereo-vision;
- 3-D reconstruction;
- Curvilinear structures;
- Dislocations;
53.Effect of asymmetric morphology on coupling surface plasmon modes and generalized plasmon ruler

机译：不对称形态对耦合表面等离子体模式和广义等离子体尺的影响
- 作者：K.J. Zhang;B. Da;Z.J. Ding
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
54.Influence of surface relaxation of strained layers on atomic resolution ADF imaging

机译：应变层表面松弛对原子分辨率ADF成像的影响
- 作者：Andreas Beyer;Lennart Duschek;Jürgen Belz;Jan Oliver Oelerich;Kakhaber Jandieri;Kerstin Volz
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
55.Field Assisted Reactive Gas Etching of Multiple Tips Observed using FIM

机译：使用FIM观察到多个提示的场辅助反应气体蚀刻
- 作者：Ahmed Rezwan;Urban Radovan;Salomons Mark;Cloutier Martin;Mizuno Seigi;Wolkow Robert;Pitters Jason
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2021年第1期
- Field ion microscopy;
- tungsten tips;
- field emission;
- nanotips;
- single atom tips;
56.High-efficiency detector of secondary and backscattered electrons for low-dose imaging in the ESEM

机译：ESEM中低剂量成像的高效检测器和后散射电子
- 作者：Nedela Vilem;Tihlarikova Eva;Runstuk Jiri;Hudec Jiri
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
- Detectors;
- Scintillators;
- Low-dose imaging;
- Energy filtration;
- MC simulations;
57.Structure and chemistry of epitaxial ceria thin films on yttria-stabilized zirconia substrates, studied by high resolution electron microscopy

机译：高分辨率电子显微镜研究亚钇稳定的氧化锆基材上外延型氧化锆薄膜的结构和化学
- 作者：Sinclair Robert;Lee Sang Chul;Shi Yezhou;Chueh William C.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
58.Liquid-solid phase transition of Ge-Sb-Te alloy observed by in-situ transmission electron microscopy

机译：原位透射电子显微镜观察GE-SB-TE合金的液固相变
- 作者：Berlin Katja;Trampert Achim
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- In-situ TEM;
- Phase change materials GeSbTe;
- Phase transitions;
- Liquid phase;
59.Spin structure relation to phase contrast imaging of isolated magnetic Bloch and Neel skyrmions (vol 212, 112973, 2020)

机译：旋转结构与分离磁性布切和尼斯斯基尔的相位对比度成像的关系（Vol 212,112973,2020）
- 作者：Poellath S.;Lin T.;Lei N.;Zhao W.;Zweck J.;Back C. H.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2021年第1期
- Skyrmion;
- Lorentz;
- TEM;
- Phase contrast;
- Magnetic imaging;
60.Adaptive-scanning, near-minimum-deformation atomic force microscope imaging of soft sample in liquid: Live mammalian cell example

机译：自适应扫描，液体软样品的近最小变形原子力显微镜显微镜：活哺乳动物细胞示例
- 作者：Ren Juan;Zou Qingze
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
- Atomic force microscope;
- Live cell;
- Topography imaging;
- Adaptive-scanning mode;
61.A spectromicroscope for nanophysics

机译：纳米物理学的谱分析镜
- 作者：M. Kociak;A. Gloter;O. Stéphan
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Electron microscopy;
- EELS;
- Cathodoluminescence;
- X-ray spectroscopy;
62.Correlative micro-diffraction and differential phase contrast study of mean inner potential and subtle beam-specimen interaction

机译：平均内部电位和微妙光束样本相互作用的相关微衍射和差分相位对比度研究
- 作者：Wu Mingjian;Spiecker Erdmann
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- DPC;
- STEM;
- Micro-diffraction;
- Mean inner potential;
- Fresnel fringes;
63.3D reconstruction of the magnetic vector potential using model based iterative reconstruction

机译：基于模型的迭代重建的3D重建磁矢量电位
- 作者：K.C. Prabhat;K. Aditya Mohan;Charudatta Phatak;Charles Bouman;Marc De Graef
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
64.On the achievable field sensitivity of a segmented annular detector for differential phase contrast measurements

机译：分段环形探测器的可实现场敏感性差分相位对比度测量
- 作者：Schwarzhuber Felix;Melzl Peter;Zweck Josef
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
65.Cross-sectional characterization of the dewetting of a Au/Ni bilayer film

机译：Au / Ni双层膜的脱模的横截面表征
- 作者：Cen Xi;Thron Andrew M.;Zhang Xinming;van Benthem Klaus
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Gold/nickel bilayer film;
- Dewetting;
- Void formation;
66.FIB based fabrication of an operative Pt/HfO2/TiN device for resistive switching inside a transmission electron microscope

机译：基于FIB的操作PT / HFO 2 / TIN装置，用于透射电子显微镜内的电阻切换
- 作者：A. Zintler;U. Kunz;Y. Pivak;S.U. Sharath;S. Vogel;E. Hildebrandt;H.-J. Kleebe;L. Alff;L. Molina-Luna
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
67.Unaltered reversible magnetic transition in Fe nanostructures upon ambient exposure

机译：环境暴露时Fe纳米结构中的不妨碍可逆磁化转变
- 作者：A. Quesada;R. Gargallo-Caballero;Y. Monta?a;M. Foerster;L. Aballe;J.F. Fernández;J. de la Figuera
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Nanomagnetism;
- Magnetic domains;
- Transitions;
68.Development of compact Cs corrector for desktop electron microscope

机译：台式电子显微镜Compact CS校正器的开发
- 作者：Chang Wei-Yu;Chen Fu-Rong
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
69.An efficient approach to integrated MeV ion imaging

机译：一种有效的含有MEV离子成像的方法
- 作者：Nikbakht T.;Kakuee O.;Sole V. A.;Vosuoghi Y.;Lamehi-Rachti M.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
- MeV ion imaging;
- PyMca;
- mu-IL;
- mu-PIXE;
- mu-RBS;
70.Super-resolved 3-D imaging of live cells' organelles from bright-field photon transmission micrographs

机译：从亮场光子传输显微照片中超级分辨的3-D成像的活细胞的细胞器
- 作者：Rychtarikova Renata;Nahlik Tomas;Shi Kevin;Malakhova Dada;Machacek Petr;Smaha Rebecca;Urban Jan;Stys Dalibor
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Super-resolution;
- Bright-field microscopy;
- Light transmission;
- Live cell imaging;
- 3D;
71.Reduced electron exposure for energy-dispersive spectroscopy using dynamic sampling

机译：使用动态采样减少用于能量分散光谱的电子暴露
- 作者：Zhang Yan;Godaliyadda G. M. Dilshan;Ferrier Nicola;Gulsoy Emine B.;Bouman Charles A.;Phatak Charudatta
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
- Scanning electron microscopy (SEM);
- Energy dispersive spectroscopy (EDS);
- Dynamic sampling;
- SLADS;
- Neural networks;
- Dose reduction;
72.Characterisation of the Medipix3 detector for 60 and 80keV electrons

机译：60和80KeV电子的Medipix3检测器的表征
- 作者：J.A. Mir;R. Clough;R. MacInnes;C. Gough;R. Plackett;I. Shipsey;H. Sawada;I. MacLaren;R. Ballabriga;D. Maneuski;V. OShea;D. McGrouther;A.I. Kirkland
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Medipix3;
- Single pixel mode;
- Charge summing mode;
- TEM;
- MTF;
- DQE;
- Nyquist frequency;
73.Three-dimensional visualization of dislocations in a ferromagnetic material by magnetic-field-free electron tomography

机译：通过无磁场电子断层扫描的铁磁材料中位错的三维可视化
- 作者：Kana L. Hasezaki;Hikaru Saito;Takumi Sannomiya;Hiroya Miyazaki;Takashi Gondo;Shinsuke Miyazaki;Satoshi Hata
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
74.Composition determination of multinary III/V semiconductors via STEM HAADF multislice simulations

机译：通过茎HAADF多层模拟组成测定多元III / v半导体
- 作者：Lennart Duschek;Andreas Beyer;Jan Oliver Oelerich;Kerstin Volz
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
75.Beamstop-based low-background ptychography to image weakly scattering objects

机译：基于BeamStop的低背景PTychoguctor图像弱散射物体
- 作者：Reinhardt Juliane;Hoppe Robert;Hofmann Georg;Damsgaard Christian D.;Patommel Jens;Baumbach Christoph;Baier Sina;Rochet Amelie;Grunwaldt Jan-Dierk;Falkenberg Gerald;Schroer Christian G.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Ptychography;
- Beamstop;
- Background scattering;
- Signal-to-noise;
- High resolution;
- Nanoparticles;
76.Measuring thermal conductivity of thin films by Scanning Thermal Microscopy combined with thermal spreading resistance analysis

机译：通过扫描热显微镜与热散射电阻分析相结合测量薄膜的导热率
- 作者：Juszczyk J.;Kazmierczak-Balata A.;Firek P.;Bodzenta J.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Scanning Thermal Microscopy;
- Thermal conductivity;
- Thermal measurement;
- Thermal probe;
- Thermal spreading resistance;
- Thin films;
77.Picometer-scale atom position analysis in annular bright-field STEM imaging

机译：环形亮场杆成像中的皮革尺 - 鳞片原子位置分析
- 作者：Gao Peng;Kumamoto Akihito;Ishikawa Ryo;Lugg Nathan;Shibata Naoya;Ikuhara Yuichi
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
78.Atomic force phase imaging for dynamic detection of adsorbed hydrogen on a catalytic palladium surface under liquid

机译：液体催化钯表面上吸附氢的动态力相成像
- 作者：Matthew J. Young;Jared C. Carson;Peter H. Pfromm;Mary E. Rezac;Bruce M. Law
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- AFM;
- Phase-shift imaging;
- Hydrogen;
- Palladium (Pd);
- Catalysis;
79.Diffraction contrast dependence on sample thickness and incident energy in on-axis Transmission Kikuchi Diffraction in SEM

机译：衍射对比度依赖于样品厚度和入射能量在SEM中的轴上传输Kikuchi衍射中的
- 作者：E. Brodu;E. Bouzy;J.-J. Fundenberger
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Transmission Kikuchi Diffraction (TKD);
- On-axis detector;
- Orientation mapping;
- SEM;
- Kikuchi lines;
- Bragg spots;
80.Evaluation of electron radiation damage to green fluorescent protein

机译：对绿色荧光蛋白的电子辐射损伤评价
- 作者：Ikegami H.;Akiba K.;Minoda H.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2021年第1期
81.Atomic resolution elemental mapping using energy-filtered imaging scanning transmission electron microscopy with chromatic aberration correction

机译：采用能量滤波成像扫描透射电子显微镜与色差校正的原子分辨率元素映射
- 作者：F.F. Krause;A. Rosenauer;J. Barthel;J. Mayer;K. Urban;R.E. Dunin-Borkowski;H.G. Brown;B.D. Forbes;L.J. Allen
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
82.Material interface detection based on secondary electron images for focused ion beam machining

机译：基于二次电子图像的材料界面检测，用于聚焦离子束加工
- 作者：Joe Hang-Eun;Lee Won-Sup;Jun Martin B. G.;Park No-Cheol;Min Byung-Kwon
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
- Ion-induced secondary electron;
- Image contrast;
- Surface characterization;
- Endpoint detection;
- Multilayer;
83.Transmission imaging on a scintillator in a scanning electron microscope

机译：在扫描电子显微镜中的闪烁体上的传输成像
- 作者：Zuidema Wilco;Kruit Pieter
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2020年第1期
84.Wet-chemical etching of atom probe tips for artefact free analyses of nanoscaled semiconductor structures

机译：用于纳米级半导体结构的艺术分析的原子探测提示的湿化学蚀刻
- 作者：Melkonyan D.;Fleischmann C.;Veloso A.;Franquet A.;Bogdanowicz J.;Morris R. J. H.;Vandervorst W.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
85.Micrograph contrast in low-voltage SEM and cryo-SEM

机译：低压SEM和Cryo-SEM中的显微照片对比
- 作者：Liberman Lucy;Kleinerman Olga;Davidovich Irina;Talmon Yeshayahu
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2020年第1期
- Picture contrast;
- Low-voltage SEM;
- Cryo-SEM;
- Electron beam accelerating voltage;
86.Hybrid statistics-simulations based method for atom-counting from ADF STEM images

机译：基于混合统计 - 基于ADF茎图像的原子计数方法
- 作者：De Wael Annelies;De Backer Annick;Jones Lewys;Nellist Peter D.;Van Aert Sandra
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
87.Low-energy electron potentiometry

机译：低能量电子电位测量
- 作者：Johannes Jobst;Jaap Kautz;Maria Mytiliniou;Rudolf M. Tromp;Sense Jan van der Molen
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Low-energy electron microscopy;
- LEEM;
- Potentiometry;
- Work function;
- Transport properties;
88.Locating light and heavy atomic column positions with picometer precision using ISTEM

机译：使用ISTEM定位带有皮肤仪精度的轻质和重型原子柱位置
- 作者：van den Bos K. H. W.;Krause F. F.;Beche A.;Verbeeck J.;Rosenauer A.;Van Aert S.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
89.Electron-beam-induced-current and active secondary-electron voltage-contrast with aberration-corrected electron probes

机译：具有像差校正的电子探针的电子束诱导电流和有源二级电子电压 - 对比度
- 作者：Han Myung-Geun;Garlow Joseph A.;Marshall Matthew S. J.;Tiano Amanda L.;Wong Stanislaus S.;Cheong Sang-Wook;Walker Frederick J.;Ahn Charles H.;Zhu Yimei
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Electron holography;
- Electric biasing;
- Ferroelectric;
- Electrostatic potential;
90.Studying substrate effects on localized surface plasmons in an individual silver nanoparticle using electron energy-loss spectroscopy

机译：使用电子能损光谱研究单独的银纳米粒子中局部表面等离子体的基材效应
- 作者：Fujiyoshi Yoshifumi;Nemoto Takashi;Kurata Hiroki
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
91.X-ray absorption in pillar shaped transmission electron microscopy specimens

机译：柱形透射电子显微镜标本X射线吸收
- 作者：Bender H.;Seidel F.;Favia P.;Richard O.;Vandervorst W.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Pillar TEM specimen;
- X-ray absorption;
- EDS X-ray tomography;
- Transmission electron microscopy;
- SiGe;
- HfO2;
92.Nanoscale mobility mapping in semiconducting polymer films

机译：半导体聚合物薄膜中的纳米级移动性映射
- 作者：Alekseev A.;Yedrissov A.;Hedley G. J.;Ibraikulov O.;Heiser T.;Samuel I. D. W.;Kharintsev S.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2020年第1期
- Charge carrier mobility;
- Current distribution;
- Organic semiconductor;
- Space charge limited current;
- Conductive AFM;
93.Imaging surface acoustic wave dynamics in semiconducting polymers by scanning ultrafast electron microscopy

机译：通过扫描超快电子显微镜的半导体聚合物中的成像表面声波动力学
- 作者：Najafi Ebrahim;Liao Bolin;Scarborough Timothy;Zewail Ahmed
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2018年第2018期
- Ultrafast electron microscopy;
- Surface acoustic waves;
- Rayleigh waves;
- Mechanical properties;
- Organic thin films;
94.High-resolution scanning precession electron diffraction: Alignment and spatial resolution

机译：高分辨率扫描进出电子衍射：对准和空间分辨率
- 作者：Barnard Jonathan S.;Johnstone Duncan N.;Midgley Paul A.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2017年第2017期
- Electron diffraction;
- STEM;
- Precession;
- Strain;
- Alignment;
95.Sample preparation methods for optimal HS-AFM analysis: Duplex stainless steel

机译：最佳HS-AFM分析的样品制备方法：双相不锈钢
- 作者：Moore Stacy;Warren Alexander D.;Burrows Robert;Payton Oliver D.;Picco Loren;Russell-Pavier Freddie S.;Martin Peter G.;Martin Tomas L.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2021年第1期
96.Fast versus conventional HAADF-STEM tomography of nanoparticles: advantages and challenges

机译：快速与纳米颗粒的常规Haadf-Step断层扫描：优点和挑战
- 作者：Vanrompay Hans;Skorikov Alexander;Bladt Eva;Beche Armand;Freitag Bert;Verbeeck Johan;Bals Sara
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2021年第1期
- Electron tomography;
- HAADF-STEM;
- Fast tomography;
- High throughput;
- Electron dose reduction;
97.High-precision orientation mapping from spherical harmonic transform indexing of electron backscatter diffraction patterns

机译：电子反散射衍射图案的球面谐波变换指数高精度取向映射
- 作者：Sparks Gregory;Shade Paul A.;Uchic Michael D.;Niezgoda Stephen R.;Mills Michael J.;Obstalecki Mark
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2021年第1期
- Electron backscatter diffraction;
- High resolution EBSD;
- Indexing;
- Spherical harmonic transform;
- Dislocation density;
98.Evaluation of microstructure and conductivity of two-phase materials by the scanning spreading resistance microscopy (the case of shungite)

机译：通过扫描抗扫描性显微镜评估两相材料的微观结构和导电性（Shungite的情况）
- 作者：Antonets I. V;Golubev Ye A.;Shcheglov V. I
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2021年第1期
99.Effect of sample thinning on strains and lattice rotations measured from Transmission Kikuchi diffraction in the SEM

机译：样品变薄对SEM传输Kikuchi衍射测量的菌株和晶格旋转的影响
- 作者：Karamched Phani S.;Saravanan Naganand;Haley Jack C.;Wilkinson Angus J.;Lozano-Perez Sergio
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2021年第1期
- HR-EBSD;
- HR-TKD;
- On-axis TKD;
- Thin sample;
- Transmission Kikuchi diffraction;
100.Quantitative agreement between dynamical rocking curves in ultrafast electron diffraction for x-ray lasers

机译：X射线激光器超快电子衍射中动态摇摆曲线之间的定量协议
- 作者：Malin L. E.;Graves W. S.;Holl M.;Spence J. C. H.;Nanni E. A.;Li R. K.;Shen X.;Weathersby S.
- 期刊名称：《Ultramicroscopy》 | 2021年第1期
- Ultrafast electron diffraction;
- Multislice simulation;
- Nanomodulated electron beam;
- X-ray free electron laser;

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