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饶瑞; 徐重阳; 孙国才; 赵伯芳; 曾祥斌;
华中科技大学电子科学与技术系,武汉 430074;
华中科技大学物理系,武汉 430074;
金属诱导横向晶化; 有源层; 刻蚀; poly-Si TFT;
机译:通过原子层沉积法生长的非晶Al_2O_3和TiO_2掩模层的电感耦合等离子体刻蚀
机译:有源层厚度对双有源层非晶InGaZnO薄膜晶体管性能和稳定性的影响
机译:具有可调耐酸的Zr掺杂的氧化铟有源层的背沟道刻蚀薄膜晶体管
机译:薄膜晶体管有源层a-Si:H的Ar +激光晶化膜的微观结构研究
机译:晶圆上电互连和使用晶圆硅刻蚀的微型悬臂阵列。
机译:通过刻蚀停止层纳米层的清洁界面工艺增强a-IGZO TFT器件的性能
机译:中频物理气相沉积AI203和SiO2作为非晶铟镓镓锌氧化物薄膜晶体管的刻蚀停止层
机译:si注入应变siGe合金层中的非晶化阈值
机译:相变随机存取存储单元的制造方法,涉及通过各向同性刻蚀对结构化硬掩模进行部分刻蚀,以及通过干法刻蚀对上部电极层和开关有源层进行刻蚀
机译:在晶化的多晶硅层上提供具有透明衬底的保护层的方法,形成其有源层的方法以及使用相同的方法制造多晶硅TFT的方法
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