一种低功耗的容软错误锁存器设计

摘要

为了缓解单粒子效应对锁存器的影响,设计了一种低功耗、高可靠的锁存器.该锁存器在内部使用了高电平信号控制时钟反相器的方法构建反馈回路,功耗开销大幅降低;并在锁存器末端使用了具有过滤瞬态故障能力的C单元作为输出级.Hspice仿真表明,该锁存器不但可以过滤从上游组合电路传播过来的SET脉冲,而且对SEU完全容忍.相比于FERST、LCHR、STI、TMR、LESH-1锁存器,文章中提出锁存器的功耗平均下降55.01％,功耗延迟积下降了75.22％,延迟下降了37.34％.