ECE Department, Isfahan University of Technology, Isfahan 74155, Iran;
University of Texas at Dallas, Richardson, TX 75080, USA;
soft-error; static latch; hardened latch; reliability;
机译:低功耗软错误硬化锁存器
机译:在工艺变化的情况下,针对纳米级CMOS技术的低成本软错误硬化锁存器设计
机译:软错误硬化锁存器及其估计方法
机译:低功耗软误差硬化闩锁
机译:加强软件以防止内存错误和攻击。
机译:利用Softmax决策模型的低功耗IOT设备的不确定性
机译:低功耗软错误硬化锁存器