...
【24h】

低電力耐ソフトエラーラッチの設計

机译:低功耗软错误锁存器设计

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
   

获取外文期刊封面封底 >>

       

摘要

近年のLSIの微細化に伴い,ソフトエラーによる信頼性の低下が問題視されている.フリップフロップの多重化等の様々なソフトエラー対策が提案されてきたが,多重化による面積·電力の増大が問題である.そこで,本稿では既存のSEHラッチに低電力化技術であるTSPC(True Single Phase Clock)を取り入れた,低電力耐ソフトエラーラッチを提案する.レイアウトを設計し,HSPICEシミュレーションによりTSPC-SEHラッチと従来のSEHラッチ,DICEラッチと比較し,ソフトエラー耐性を損なわずに電力を最大42%削減し,54%の動作速度向上を達成した.
机译:随着近来LSI的小型化,由于软错误而导致的可靠性下降已被视为问题。已经提出了各种软错误对策,例如触发器多路复用,但是问题是由于多路复用而导致面积和功率的增加。因此,在本文中,我们提出了一种将低功耗技术TSPC(真单相时钟)结合到现有的SEH锁存器中的低功耗抗软错误锁存器。设计了版图,并与通过HSPICE仿真的TSPC-SEH锁存器和传统的SEH锁存器和DICE锁存器相比,功耗降低了多达42%,工作速度提高了54%,而不会损害软容错性。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号