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中国计算机学会;
软错误; 功能复用; 芯片失效; 容错微结构;
机译:抗软错误的BIST用于FPGA测试
机译:FPGA测试BIST的软错误
机译:Gabist:一种新的方法,可以找到近最佳LFSR的BIST结构
机译:一种基于电气测试(BIST)电路的电气刺激,用于电容MEMS加速度计
机译:Blebbistain,一种肌球蛋白II抑制剂,作为一种调节部分膀胱出口梗阻大鼠模型中逼尿肌收缩力的新策略
机译:一种新的基于算法的软错误容错体系结构的成本分析
机译:B(Exp 2)UBIsT:边界扫描板统一BIsT的策略
机译:用于通过多种接触结构来提高可靠性并降低缺陷率的图像显示面板的测试单元以及一种多种接触结构的制造方法
机译:一种简化的方法,用于在tristrato或bistrato组织上制作防水连接,在联合的侧面上有或没有复杂的结构,以前与接缝或超声波结合在一起。
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