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定向局部异质外延生长的p型金刚石膜压阻效应的研究

         

摘要

本文研究了局部定向异质外延生长的金刚石膜的压阻效应,实验研究表明,这种膜的压阻因子在200微应变,室温下约为1300.其值大大超过了单晶硅的相应值,这是因为外延膜中缺陷态降低并且改进了测试方法,文中还简单讨论了金刚石膜压阻效应的起因.

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