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龚仁喜; 孟小碧;
广西大学,电气工程学院,广西,南宁,530004;
HEMT; 高频特性; 因素分析;
机译:HEMT新的空心结构形成过程,提高高频特性
机译:用于提高HEMT高频特性的中空形成过程
机译:具有Al 2 sub> O 3 sub>的L g sub> = 60 nm InGaAs MOS高电子迁移率晶体管(MOS-HEMT)的高频特性栅极绝缘子
机译:用于毫米波应用的低电阻硅上的AlInGaN HEMT的高频特性
机译:温度和热电子对HEMT的影响及其对大信号响应衰减的影响的测量和建模。
机译:不同修复方法对常关P-GaN HEMT电性能的影响
机译:具有记录的高频特性的60 nm自对准栅InGaAs HEMT
机译:均匀等离子体的高频特性Ⅱ。均匀磁场的影响
机译:质量影响因素分析方法,质量预测方法,质量控制方法,质量影响因素分析装置,质量预测装置,质量控制装置,质量影响因素分析系统,质量预测系统,质量控制系统和计算机程序
机译:质量影响因素分析方法,质量预测方法,质量控制方法,质量影响因素分析设备,质量预测设备,质量控制设备,质量影响因素分析系统,质量预测系统,质量控制和质量控制方法
机译:影响DNA环化的因素分析,影响DNA整合的因素分析,因素及其用途
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