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David Foggie; Jens Katschke;
得可公司;
芯片规模封装; 焊球置放; 晶圆; 条与基板;
机译:零星早期寿命焊球脱离效果对晶圆级芯片级封装焊接接头的后续微观结构演化和疲劳
机译:无铅晶圆级芯片级封装中的Sn-4Ag-0.5Cu焊球和Sn-7Zn-AI(30 ppm)焊膏的焊点界面反应研究
机译:晶圆级焊球放置及其含义
机译:大型管芯晶圆级封装的可靠性研究(第二部分):焊球成分,管芯厚度和聚合物钝化对板级可靠性的影响
机译:晶圆级封装中以聚合物为芯的焊球和扇出技术的研究
机译:金膜厚度和表面粗糙度对室温晶圆键合和金-金表面活化键合的晶圆级真空密封的影响
机译:使用新型铜螺柱技术提高晶圆级CSP的焊球剪切强度
机译:用于晶圆级集成的可重构VLsI(超大规模集成)中的工艺注意事项
机译:大规模并行晶圆级可靠性系统和过程,用于大规模并行晶圆级可靠性测试
机译:大规模并行晶圆级可靠性系统和大规模并行晶圆级可靠性测试过程
机译:晶圆级芯片级封装,减少焊球上的应力
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