首页> 中文期刊> 《电子质量》 >三维封装微系统中TSV技术研究

三维封装微系统中TSV技术研究

         

摘要

对基于TSV技术的某微系统中的核心结构TSV转接板进行了研究,建立1层TSV转接板的电磁模型并进行仿真分析.其次在1层TSV转接板的基础上进行改进,分别建立2层TSV转接板和3层TSV转接板,通过仿真分析可知,3层TSV转接板的电学特性相比1层TSV转接板电学特性有明显提升.最后使用探针台对3层TSV转接板进行电学特性测试,通过对比发现,3层转接板的电学特性测试结果与仿真结果相吻合.

著录项

  • 来源
    《电子质量》 |2018年第12期|111-115|共5页
  • 作者

    冉红雷; 彭浩; 黄杰;

  • 作者单位

    国家半导体器件质量监督检验中心;

    河北石家庄050051;

    中电科技集团电子可靠性工程技术有限公司;

    北京100083;

    国家半导体器件质量监督检验中心;

    河北石家庄050051;

    中电科技集团电子可靠性工程技术有限公司;

    北京100083;

    国家半导体器件质量监督检验中心;

    河北石家庄050051;

    中电科技集团电子可靠性工程技术有限公司;

    北京100083;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 制造工艺;
  • 关键词

    硅通孔(TSV); 探针台测试; 电磁仿真;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号