Department of Innovative and Engineered Materials, Tokyo Institute of Technology, Yokohama 226-8503, Japan;
机译:Ge(001)衬底上组合外延Ge(001)薄膜的高分辨率X射线衍射研究
机译:CoMnGe组合外延薄膜的微聚焦同步加速器X射线结构研究
机译:组合多晶薄膜库的高通量X射线衍射分析
机译:用于组合外延薄膜的高通量X射线衍射仪
机译:使用高分辨率X射线衍射技术的外延薄膜和周期性纳米结构的计量学。
机译:X射线衍射数据和分析以支持FeSe和Fe7Se8外延薄膜的相识别
机译:用微聚焦同步辐射X射线对ComnGe组合外延薄膜的结构研究
机译:X射线衍射仪用于分析纳米层薄膜的结构和热稳定性