适用于单晶、多晶、非晶、薄膜材料结构评价的理学/高分辨率X射线衍射仪SLX-2000

著录项

• 来源
  《理学X射线衍射仪用户协会会议》|1996年|169-172|共4页
• 会议地点 天津
• 作者

  会社理学北京事务所;

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• 作者单位

  中国物理学会;

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• 会议组织
• 正文语种
• 原文格式 PDF
• 中图分类 各种射线及其衰变;
• 关键词

  薄膜结构; X射线衍射仪; 半导体材料; 结构分析; 高分辨率;