U.S. Army Research Laboratory, USA;
机译:偏压引起的4H-SiC DMOSFET阈值电压和漏极电流不稳定性
机译:具有稳定的亚阈值行为(与温度无关)的10kV大面积4H-SiC功率DMOSFET
机译:双源U形通道的负电容隧穿场效应晶体管设计,超陡亚阈值摆幅和大型导通电流
机译:状态电流应力引起的SiC DMOSFET中的亚阈值I-V不稳定性
机译:研究聚合物材料中的断裂和应力诱发的形态不稳定性。
机译:氧含量对底栅非晶InGaZnO薄膜晶体管电流应力诱导的不稳定性的影响
机译:高电流接通电压的SiC MOSFET结温监测
机译:siC DmOsFET和JFET的高温性能比较(预印)