Microwave Devices and Integrated Circuits Department, Key Laboratory of Microelectronics Device and Integrated Technology, Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China;
机译:多指AlGaN / GaN HEMT器件操作的电热建模,包括热衬底效应
机译:Gan-Cappe AlGaN / GaN和Alinn / GaN Hemts电流电压特性的分析模型,包括热和自热效应
机译:AlGaN / GaN HEMT包括自热和环境温度影响的经验大信号建模的电热模型
机译:Algan / GaN HEMT的三维建模包括电热耦合效应
机译:低维硅MOS和AlGaN / GaN HEMT器件中的应变效应。
机译:AlGaN / GaN HEMT大信号建模中的IV扭结效应研究
机译:alGaN / GaN高电子迁移率晶体管的三维稳态和瞬态全耦合电热模拟:横向散热和栅极指间热串扰的影响