机译:通过晶格匹配的In0.18Al0.82N / GaN异质结构上的Ni / Au肖特基接触中的热氧化来减少漏电流
机译:高压半导体器件中的边缘反转通道和表面漏电流
机译:消除ESD事件并优化Waterjet喷水脱闪工艺,以减少QFN-mr引线框架器件上的漏电流故障
机译:改进的通道结构降低了0.18μmSOI器件的动态漏电流
机译:抑制漏洞销装置漏电流的表面钝化优化
机译:介孔结构的HfO2 / Al2O3复合材料离子导电泄漏电流降低的薄膜设备
机译:具有降低离子导电装置的漏电流降低的介质性HFO2 / AL2O3复合薄膜
机译:sOI器件中的漏电流测量