Elimination of ESD Events and Optimizing Waterjet Deflash Process for Reduction of Leakage Current Failures on QFN-mr Leadframe Devices

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• 来源
  《电气工程：英文版》 |2018年第004期|P.238-243|共6页
• 作者

  Frederick Ray I.Gomez; Tito T.Mangaoang Jr.;

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• 作者单位

  Back-End Manufacturing ＆ Technology, STMicroelectronics, Inc., Calamba City, Laguna 4027, Philippines;

  Back-End Manufacturing ＆ Technology, STMicroelectronics, Inc., Calamba City, Laguna 4027, Philippines;

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• 收录信息
• 原文格式 PDF
• 正文语种 CHI
• 中图分类 TD611.5;
• 关键词

  高漏电流故障; 故障分析; 漏电保护; 静电;

  机译：高漏电流故障;故障分析;漏电保护;静电;
• 入库时间 2022-08-19 04:27:10