PBTI; activation energy; lifetime prediction; n-Type tunnel FinFETs; threshold voltage;
机译:PBTI应力引起的N沟道FinFET中的1 / F噪声
机译:In x sub> Ga 1-x sub> As FinFET中铟(x)浓度和量子浓度的变化对PBTI可靠性的影响
机译:NBTI / PBTI老化和工艺变化对MOSFET和FinFET触发器中写入失败的影响
机译:n型隧道FinFet的PBTI
机译:在n型二氧化钛和n型氧化铁粉末以及薄膜电极存在下,对有机污染物和维生素C和E进行光电化学氧化。
机译:自旋注入n型谐振隧穿二极管
机译:ALD锡覆盖层对N-FINFET与ALD HFO2 / TIN覆盖/ Tial栅极堆叠的PBTI特性的影响