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王泽卫;
西安电子科技大学;
增强型; GaN器件; 调控;
机译:通过热激电流光谱和背栅测量研究AIGaN / GaN-on-Si器件中的缓冲陷阱
机译:新型PEALD-AlN / LPCVD-Si 3 sub>晶体管的823-mA / mm漏电流密度和945-MW / cm 2 sup> Baliga的品质因数增强型GaN MISFET > N 4 sub>双栅介质
机译:使用金属有机化学气相沉积生长的掺Ge层的具有极低导通电阻的基于NiO栅的GaN增强型异质结场效应晶体管
机译:p-GaN三栅常关GaN功率MOSHEMT的研究
机译:增强型AlGaN / GaN晶体管的制造技术和器件仿真。
机译:栅漏电流在AlGaN / GaN肖特基栅HFET和MISHFET中引起的陷阱
机译:通过动态和电致发光测量表征具有透明栅电极的AlGaN / GaN HEMT器件
机译:结合GaN衬底热边界电阻的氮化镓(GaN)高电子迁移率晶体管(HEmT)器件的混合多栅模型。
机译:三维全方位栅垂直栅极结构和半导体器件的制造方法以及三维全方位栅垂直栅极结构和半导体器件
机译:GaN基半导体发光器件,发光器件组件,发光器件,用于制造GaN基半导体发光器件的方法,用于GaN基半导体发光器件的驱动方法和图像显示装置
机译:非易失性存储器件包括存储单元,该存储单元包括具有浮置栅极,第二绝缘层和第一栅电极以及在栅结构的相对侧壁上的第二和第三栅电极间隔物的堆叠栅结构
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