Electron traps; Three-dimensional displays; Flash memories; Solid modeling; Electric fields; Microelectronics; Materials science and technology;
机译:循环诱导的Intercell捕获电荷对3-D NAND闪存中的保留电荷损耗的影响
机译:单元间陷阱电荷对垂直NAND闪存的影响
机译:陷阱电荷分布对nand闪存单元数据保留特性的影响
机译:横向电荷迁移对3D充电陷阱NAND闪存中数据保留和读取干扰的影响
机译:高k电介质的电荷陷阱闪存。
机译:通过利用氧化铝的高介电常数和高带隙低功率和闪光阵列的低功率和闪光阵列的保留增强
机译:循环诱导的Intercell捕获电荷对3-D NAND闪存中的保留电荷损耗的影响
机译:辐射暴露对商用NaND闪存保留的影响