Three-dimensional displays; Electric fields; Energy states; Flash memories; Computer architecture; Microprocessors; Solids;
机译:横向电荷迁移诱导3D电荷捕获NAND闪存中的异常读取干扰
机译:错误:'横向电荷迁移在3D充电捕获NAND闪存中引起异常读取干扰NAND闪存'[应用。物理。快递13,054002(2020)]
机译:通过针对高可靠性和低功耗企业固态硬盘(SSD)的铁电(Fe)-NAND闪存存储器的存储单元V-TH优化,改善了读取干扰,程序干扰和数据保留
机译:读取三级单元(TLC)3D充电陷阱(CT)NAND闪存中的探测器
机译:使用大规模NAND闪存的固态数据存储电路和系统。
机译:3D NAND闪存记忆中的随机电报噪声
机译:电荷陷阱3D NAND闪存中过渡层缺陷引起的电荷损失
机译:辐射暴露对商用NaND闪存保留的影响