Backend TDDB; Built-In Self Test; Electromigration; Reliability; Stress Induced Voiding;
机译:内置自测方法和统计分析,用于静态随机存取存储器阵列中的电损耗诊断
机译:嵌入式SRAMS中内置自检和自诊断的选择性算法
机译:内置自检设计,用于基于SRAM的FPGA中的故障检测和故障诊断
机译:SRAM细胞中后端磨损机制诊断的内置自测方法
机译:内置可编程存储器,用于SRAM自检。
机译:从理论启发到基于理论的干预:用于开发和测试将行为改变技术与行为理论机制联系起来的方法的协议
机译:PDGFα受体1.5 kb转录本,OCT-4和c-KIT在人正常和恶性组织中的表达。对睾丸生殖细胞肿瘤的早期诊断和我们对调节机制的理解的意义
机译:sEU(单事件翻转)容忍存储器单元源自sRam中的sEU机制的基础研究(静态随机存取存储器)