机译:内置自检设计,用于基于SRAM的FPGA中的故障检测和故障诊断
Dept. of Electr. Eng., Nat. Dong Hwa Univ., Hualien;
SRAM chips; automatic test pattern generation; built-in self test; fault diagnosis; field programmable gate arrays; logic design; logic testing; table lookup; BIST structure; SRAM-based FPGA; XC4000-series FPGA; built-in self-test design; configurable logic block; fault detection; field-programmable gate array; interconnect resource; lookup table; output response analyzer; programmable switch; static-RAM; stuck on-off fault; test pattern generator; Built-in self-test (BIST); configurable logic block (CLB); fault coverage; field-programmable gate array (FPGA);
机译:使用FPGA中的硬件故障仿真进行内置自测质量评估
机译:在FPGA中使用硬件故障仿真进行内置的自测质量评估
机译:基于二维网格的芯片多处理器系统的内置自我测试/自我诊断和故障隔离电路的容错路由器
机译:基于SRAM的FPGA中MUXFX的故障检测内置自测设计
机译:内置的自检功能可通过边界扫描进行互连故障。
机译:在气动控制阀故障检测和诊断中使用人工神经网络的发展
机译:内置自检技术,用于选择性检测存储器中的邻域模式敏感故障