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IEEE VLSI Test Symposium
IEEE VLSI Test Symposium
召开年:
2014
召开地:
Napa, CA(US)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
Fault simulation with test switching for static test compaction
机译:
通过测试切换进行故障模拟以进行静态测试压缩
作者:
Pomeranz Irith
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Fault simulation;
reverse order fault simulation;
static test compaction;
test generation;
2.
Fast evaluation of test vector sets using a simulation-based statistical metric
机译:
使用基于模拟的统计量度快速评估测试向量集
作者:
Mirkhani Shahrzad
;
Abraham Jacob A.
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
3.
Improving CMOS open defect coverage using hazard activated tests
机译:
使用危害激活测试来提高CMOS开放缺陷覆盖率
作者:
Han Chao
;
Singh Adit D.
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
LOC;
TDF;
delay;
faults;
hazards;
stuck-open;
4.
Efficient Monte Carlo-based analog parametric fault modelling
机译:
基于蒙特卡洛的高效模拟参数故障建模
作者:
Stratigopoulos Haralampos-G.
;
Sunter Stephen
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
5.
A method for phase noise extraction from data communication
机译:
从数据通信中提取相位噪声的方法
作者:
Ecker Allan
;
Soma Mani
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
ATE;
Board Test;
Economics of Test;
Hardware and Software;
High-Speed RF Test;
IIR;
Mixed-Signal and Analog Test;
Phase Noise;
6.
Accurate and efficient method of jitter and noise separation and its application to ADC testing
机译:
准确有效的抖动和噪声分离方法及其在ADC测试中的应用
作者:
Xu Li
;
Chen Degang
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Analog-to-Digital Converter;
jitter;
noise;
single frequency;
spectral testing;
7.
Innovative practices session 1C: Existing/emerging low power techniques
机译:
创新实践会议1C:现有/新兴的低功耗技术
作者:
Dixit Charutosh
;
Tekumalla Ramesh
;
Zhao Wei
;
Mukherjee Nilanjan
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
8.
Testing methods for a write-assist disturbance-free dual-port SRAM
机译:
写入辅助无干扰双端口SRAM的测试方法
作者:
Yang Hao-Yu
;
Lin Chen-Wei
;
Huang Chao-Ying
;
Lu Ching-Ho
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
9.
Built-in self test methodology for diagnosis of backend wearout mechanisms in SRAM cells
机译:
内置自我测试方法,用于诊断SRAM单元中的后端磨损机制
作者:
Kim Woongrae
;
Milor Linda
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Backend TDDB;
Built-In Self Test;
Electromigration;
Reliability;
Stress Induced Voiding;
10.
Fault modeling and test algorithm creation strategy for FinFET-based memories
机译:
基于FinFET的存储器的故障建模和测试算法创建策略
作者:
Harutyunyan G.
;
Tshagharyan G.
;
Vardanian V.
;
Zorian Y.
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
FinFET;
defect;
embedded memory;
fault model;
test algorithm;
11.
New topic session 2B: Co-design and reliability of power electronic modules — Current status and future challenges
机译:
新主题会议2B:功率电子模块的共同设计和可靠性-现状和未来挑战
作者:
Kaminska Bozena
;
Courtois Bernard
;
Bailey Chris
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
12.
Innovative practices session 2C: Advanced in yield learning
机译:
创新实践会议2C:先进的收益学习
作者:
Lin Yen-Tzu
;
Benware Brady
;
Stine Brian
;
Bhavnagarwala Azeez
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
13.
A built-in self-test technique for load inductance and lossless current sensing of DC-DC converters
机译:
内置的自检技术,用于负载电感和无损电流检测的DC-DC转换器
作者:
Liu Tao
;
Fu Chao
;
Ozev Sule
;
Bakkaloglu Bertan
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
14.
Alternative “safe” test of hysteretic power converters
机译:
磁滞功率转换器的替代“安全”测试
作者:
Wang X.
;
Blanchard K.
;
Estella S.
;
Chatterjee A.
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Alternative testing;
DfT;
buck converter test;
15.
Accelerating capture of infrequent errors on ATE for silicon TV tuners
机译:
加快在硅电视调谐器的ATE上捕获罕见错误的速度
作者:
Fan Y.
;
Verma A.
;
Trager D.S.
;
Poorfard R.K.
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
ATE;
DPPM;
Infrequent Errors;
Production Test;
Silicon TV Tuner;
16.
Self-heating thermal-aware testing of FPGAs
机译:
FPGA的自热式热感知测试
作者:
Amouri Abdulazim
;
Hepp Jochen
;
Tahoori Mehdi
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
17.
Structural Software-Based Self-Test of Network-on-Chip
机译:
基于结构的片上网络自测
作者:
Dalirsani Atefe
;
Imhof Michael E.
;
Wunderlich Hans-Joachim
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Automatic Test Pattern Generation (ATPG);
Boolean Satisfiability (SAT);
Network-on-Chip (NoC);
Software-Based Self-Test (SBST);
18.
Accelerated online error detection in many-core microprocessor architectures
机译:
多核微处理器架构中的加速在线错误检测
作者:
Kaliorakis Manolis
;
Psarakis Mihalis
;
Foutris Nikos
;
Gizopoulos Dimitris
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
many-core microprocessors;
online testing;
software-based testing;
test program parallelization;
19.
Innovative practices session 3C: Solving today's test challenges
机译:
创新实践会议3C:解决当今的测试挑战
作者:
Kim John
;
Meyer Wolfgang
;
Mak T.M.
;
Majumdar Amitava
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
20.
Special session 4A: Elevator talks
机译:
特别会议4A:电梯讲座
作者:
Dworak Jennifer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
21.
Special session 4B: Panel: Testing and calibration for power management circuits
机译:
特别会议4B:小组:电源管理电路的测试和校准
作者:
Ozev Sule
;
Bakkaloglu Bertan
;
Ozev Sule
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
22.
Innovative practices session 4C: Disruptive solutions in the non-digital world
机译:
创新实践会议4C:非数字世界中的颠覆性解决方案
作者:
Majumdar Amitava
;
Natarajan Suriya
;
Majumdar Amitava
;
Sunter Stephen
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
23.
Test generation and design-for-testability for flow-based mVLSI microfluidic biochips
机译:
基于流程的mVLSI微流体生物芯片的测试生成和可测试性设计
作者:
Hu Kai
;
Ho Tsung-Yi
;
Chakrabarty Krishnendu
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
24.
Fault tolerant nanoarray circuits: Automatic design and verification
机译:
容错纳米阵列电路:自动设计和验证
作者:
Ranone P.
;
Turvani G.
;
Riente F.
;
Graziano M.
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
CAD for nanoelectronics;
Fault-tolerance optimization;
Monte-Carlo;
Nanoarrays;
emerging technology;
25.
Detection, diagnosis, and repair of faults in memristor-based memories
机译:
检测,诊断和修复基于忆阻器的存储器中的故障
作者:
Kannan Sachhidh
;
Karimi Naghmeh
;
Karri Ramesh
;
Sinanoglu Ozgur
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Memory;
Memristor;
Sneak-paths;
Testing;
26.
Quality versus cost analysis for 3D Stacked ICs
机译:
3D堆叠式IC的质量与成本分析
作者:
Taouil Mottaqiallah
;
Hamdioui Said
;
Marinissen Erik Jan
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
27.
Test planning and test access mechanism design for stacked chips using ILP
机译:
使用ILP的堆叠芯片的测试计划和测试访问机制设计
作者:
SenGupta Breeta
;
Larsson Erik
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
28.
Modeling location based wafer die yield variation in estimating 3D stacked IC yield from wafer to wafer stacking
机译:
建模基于位置的晶圆裸片良率变化,以估算各晶圆之间的3D堆叠IC良率
作者:
Singh Eshan
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
29.
Innovative practices session 5C: Machine learning and data analysis in test
机译:
创新实践会议5C:测试中的机器学习和数据分析
作者:
Biswas Sounil
;
Carulli John
;
Drmanac Dragoljub Gagi
;
Bhattacherjee Arpan
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
30.
SMV methodology enhancements for high speed I/O links of SoCs
机译:
用于SoC的高速I / O链接的SMV方法增强
作者:
Viveros-Wacher Andres
;
Alejos Ricardo
;
Alvarez Liliana
;
Diaz-Castro Israel
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
High Speed I/O;
Post-Silicon Electrical Validation;
System Marginality Validation;
System-on-Chip;
Unit per Million;
31.
Multi-channel testing architecture for high-speed eye-diagram using pin electronics and subsampling monobit reconstruction algorithms
机译:
高速电子眼图的多通道测试架构,采用引脚电子和二次采样单位重构算法
作者:
Moon Thomas
;
Choi Hyun Woo
;
Keezer David C.
;
Chatterjee Abhijit
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Eye-diagram;
High-speed Bit pattern;
Monobit receiver;
Pin Electronic;
32.
Extraction of threshold voltage degradation modeling due to Negative Bias Temperature Instability in circuits with I/O measurements
机译:
具有I / O测量的电路中由于负偏置温度不稳定性引起的阈值电压降级模型的提取
作者:
Cha Soonyoung
;
Chen Chang-Chih
;
Liu Taizhi
;
Milor Linda S.
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
charge trapping-detrapping model;
circuit degradation;
negative bias temperature instability;
33.
At-speed interconnect testing and test-path optimization for 2.5D ICs
机译:
2.5D IC的全速互连测试和测试路径优化
作者:
Wang Ran
;
Chakrabarty Krishnendu
;
Bhawmik Sudipta
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
34.
Built-in self-test for manufacturing TSV defects before bonding
机译:
内置自检功能,可在粘接前制造TSV缺陷
作者:
Di Natale Giorgio
;
Flottes Marie-lise
;
Rouzeyre Bruno
;
Zimouche Hakim
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
3D Pre-Bond Testing;
BIST;
PVT;
Pin-hole;
TSV;
Void;
35.
TSV aware timing analysis and diagnosis in paths with multiple TSVs
机译:
具有多个TSV的路径中具有TSV意识的时序分析和诊断
作者:
Metzler C.
;
Todri-Sanial A.
;
Bosio A.
;
Dilillo L.
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
3D integration;
Through-Silicon vias (TSV);
multivariate statistics;
resistive open TSV;
timing aware model;
36.
Unstructured text: Test analysis techniques applied to non-test problems
机译:
非结构化文本:适用于非测试问题的测试分析技术
作者:
Gattiker Anne
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
37.
Reliability enhancement using in-field monitoring and recovery for RF circuits
机译:
使用现场监视和恢复RF电路来提高可靠性
作者:
Chang Doohwang
;
Ozev Sule
;
Bakkaloglu Bertan
;
Kiaei Sayfe
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
38.
Continuous wave radar circuitry testing using OFDM technique
机译:
使用OFDM技术的连续波雷达电路测试
作者:
Metwally Mohamed
;
L#039
;
Esperance Nicholai
;
Xia Tian
;
Slamani Mustapha
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Multitone signal generator;
OFDM;
radar;
39.
A built-in gain calibration technique for RF low-noise amplifiers
机译:
射频低噪声放大器的内置增益校准技术
作者:
Wu Ya-Ru
;
Hsieh Yi-Keng
;
Ku Po-Chih
;
Lu Liang-Hung
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Amplitude detectors;
built-in self-test (BIST);
gain calibration;
low-noise amplifiers;
transimpedance amplifiers (TIAs);
40.
New topic session 7B: Challenges and opportunities in test and design for test (DFT) of MEMS sensors
机译:
新主题会议7B:MEMS传感器的测试与测试设计(DFT)中的挑战与机遇
作者:
Kaminska Bozena
;
Courtois Bernard
;
Kaminska Bozena
;
Maher Mary Ann
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
41.
Innovative practices session 7C: Reduced pin-count testing — How low can we go?
机译:
创新实践会议7C:减少引脚数测试-我们能走多低?
作者:
Sunter Stephen
;
Comen Steve
;
Berndt Paul
;
Rajamani Ram
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
42.
Special session 8A: E.J. McCluskey Doctoral Thesis Award semi-final
机译:
特别会议8A:E.J.麦克卢斯基博士论文奖半决赛
作者:
Portolan M.
;
Maniatakos M.
;
Maniatakos M.
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
43.
Special session 8B — Panel: In-field testing of SoC devices: Which solutions by which players?
机译:
特别会议8B-小组讨论:SoC器件的现场测试:哪些解决方案由哪些厂商提供?
作者:
Abraham Jacob A.
;
Gu Xinli
;
MacLaurin Teresa
;
Rajski Janusz
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
DfT;
EDA;
SoC;
functional testing;
in-field testing;
44.
Special session 8C: Hot topic: Designers' and test researchers' roles in analog design-for-test
机译:
特别会议8C:热门话题:设计人员和测试研究人员在模拟测试设计中的角色
作者:
Ishida Masahiro
;
Yamaguchi Takahiro J.
;
Soma Mani
;
Fiez Terri
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
45.
Identification of testable representative paths for low-cost verification of circuit performance during manufacturing and in-field tests
机译:
识别可测试的代表性路径,以在制造和现场测试期间低成本验证电路性能
作者:
Chen Jifeng
;
Winemberg LeRoy
;
Tehranipoor Mohammad
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
PDF pattern;
Path-delay test;
circuit aging;
performance;
process variations;
46.
Power/ground supply voltage variation-aware delay test pattern generation
机译:
知道电源/地面电源电压变化的延迟测试图形
作者:
Wang Lu
;
Wang Xutao
;
Maleki Milad
;
Liu Bao
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
47.
Improved power supply noise control for pseudo functional test
机译:
改进的电源噪声控制,可进行伪功能测试
作者:
Zhang Tengteng
;
Walker Duncan M.Hank
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
delay testing;
power supply noise;
pseudo-functional test;
48.
Phase-locked loop design with SPO detection and charge pump trimming for reference spur suppression
机译:
具有SPO检测和电荷泵调整功能的锁相环设计,可抑制参考杂散
作者:
Hsiao Sen-Wen
;
Chen Chung-Chun
;
Caplan Randy
;
Galloway Jeff
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
BIST;
PLL;
SPO;
charge pump;
current mismtach;
frequency synthesizer;
long-term jitter;
reference spur;
49.
Development and empirical verification of an accuracy model for the power down leakage tests
机译:
断电泄漏测试精度模型的开发和经验验证
作者:
Jeong Jae Woong
;
Ozev Sule
;
Taenzler Friedrich
;
Chao Hui-Chuan
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
50.
A 4-GHz universal high-frequency on-chip testing platform for IP validation
机译:
用于IP验证的4 GHz通用高频片上测试平台
作者:
Yang Ping-Lin
;
Lin Cheng-Chung
;
Kuo Ming-Zhang
;
Dhong Sang-Hoo
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
关键词:
Digital/analog/mixed-signal;
flexible;
high speed;
on-chip tester;
universal;
51.
Hot topic session 9C: Test and fault tolerance for emerging memory technologies
机译:
热门话题会议9C:新兴内存技术的测试和容错
作者:
Natarajan Suriya
;
Majumdar Amitava
;
Rajendran Jeyavijayan
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2014年
52.
A shared memory based parallel diagnosis system
机译:
基于共享内存的并行诊断系统
作者:
Cai X.
;
Gizdarski E.
;
Landau D.
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
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2014年
53.
An efficient diagnosis method to deal with multiple fault-pairs simultaneously using a single circuit model
机译:
使用单个电路模型同时处理多个故障对的有效诊断方法
作者:
Wu Cheng-Hung
;
Lee Kuen-Jong
;
Lien Wei-Cheng
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
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2014年
关键词:
Fault diagnosis;
diagnosis pattern generation;
multi-pair diagnosis;
54.
Atomic model learning: A machine learning paradigm for post silicon debug of RF/analog circuits
机译:
原子模型学习:一种用于RF /模拟电路的后期硅调试的机器学习范例
作者:
Deyati Sabyasachi
;
Muldrey Barry J.
;
Banerjee Aritra
;
Chatterjee Abhijit
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
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2014年
关键词:
Artificial neural networks;
Fault diagnosis;
Mixers;
Model checking;
Power amplifiers;
Preamplifiers;
Radio transmitters;
55.
Functional block extraction for hardware security detection using time-integrated and time-resolved emission measurements
机译:
使用时间积分和时间分辨的发射测量来提取功能块以进行硬件安全检测
作者:
Stellari Franco
;
Song Peilin
;
Ainspan Herschel A.
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
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2014年
关键词:
Tester-based test methodology;
hardware security;
reverse engineering;
time-integrated and time-resolved emission;
56.
Active defense against counterfeiting attacks through robust antifuse-based on-chip locks
机译:
通过强大的基于反熔丝的片上锁来主动防御假冒攻击
作者:
Basak Abhishek
;
Zheng Yu
;
Bhunia Swarup
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
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2014年
57.
Auto-identification of positive feedback loops in multi-state vulnerable circuits
机译:
多状态脆弱电路中正反馈回路的自动识别
作者:
Liu Zhiqiang
;
Li You
;
Geiger Randall L.
;
Chen Degang
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
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2014年
关键词:
multiple operating points;
multiple states;
netlist;
positive feedback loops;
topological structure;
58.
Innovative practices session 10C: Advances in DFT and compression
机译:
创新实践会议10C:DFT和压缩的进展
作者:
Kapur Rohit
;
Pomeranz Irith
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
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2014年
59.
On the use of multi-cycle tests for storage of two-cycle broadside tests
机译:
关于使用多周期测试存储两周期宽边测试
作者:
Pomeranz Irith
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
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2014年
60.
Test-time optimization in NOC-based manycore SOCs using multicast routing
机译:
使用多播路由的基于NOC的多核SOC中的测试时间优化
作者:
Agrawal Mukesh
;
Chakrabarty Krishnendu
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
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2014年
61.
On-chip voltage-droop prediction using support-vector machines
机译:
使用支持向量机的片上电压降预测
作者:
Ye Fangming
;
Firouzi Farshad
;
Yang Yang
;
Chakrabarty Krishnendu
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
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2014年
62.
Special session 11B: ITRS adaptive test update
机译:
特别会议11B:ITRS自适应测试更新
作者:
Carulli John
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
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2014年
63.
Special session 11C: Young professionals in test — Elevator talks
机译:
特别会议11C:正在接受测试的年轻专业人员-电梯讲座
作者:
Sanyal Alodeep
;
Li Yanjing
;
Sanyal Alodeep
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
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2014年
64.
Hot topic session 12A: Split manufacturing — IARPA's TIC program
机译:
热门话题会议12A:拆分制造-IARPA的TIC计划
作者:
Collins Dean
;
Karri Ramesh
;
Collins Dean
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
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2014年
65.
Hot topic session 12B: Stay relevant with standards-based DFT
机译:
热门话题会议12B:与基于标准的DFT保持联系
作者:
Clark C J
;
Champac Victor
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
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2014年
66.
Special session 12C: Young professionals in test — Town meeting
机译:
特别会议12C:年轻专业人士正在接受测试—城镇会议
作者:
Sanyal Alodeep
;
Li Yanjing
;
Zorian Yervant
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
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2014年
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