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一种适用于小尺寸工艺的SRAM单元设计

             

摘要

最近研究表明,静态存储器(SRAM)功耗是整个芯片功耗的重要组成部分,功耗问题在SRAM单元设计中成为一个日益重要的问题。提出了一种新的纳米级的高稳定性和低功耗应用技术,采用该技术的SRAM单元采用分开的读写机制。65nmCMOS工艺的仿真结果表明,此新型的SRAM单元结构在保证正确的读写操作下,在写0操作时功耗比传统的SRAM单元降低22.45%。同时,此新型SRAM在空闲模式下利用漏电流和正反馈存值,极大地提高了SRAM单元的稳定性,改善了纳米尺度下SRAM单元的功耗问题。

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