Dage Precision Industries Inc. Fremont, CA 94538 e-mail: d.bernard@dage-group.com;
机译:无铅焊锡材料和焊锡掩模尺寸不同设计的倒装芯片球栅阵列元件的焊点可靠性评估
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机译:通过Ar-H_2等离子体增强无铅焊料对氧化铜的焊料润湿性:倒装芯片凸点:H_2流速的影响
机译:使用两种激光束超声波检查技术对倒装芯片BGA焊球缺陷进行无损检查
机译:用共晶铅锡和无铅焊料对塑料球栅阵列,芯片规模和倒装芯片封装的焊球剪切强度进行调查和分析。
机译:使用超声波传感器检查倒装芯片焊锡凸点的缺陷
机译:倒装芯片BGA封装的焊点可靠性
机译:基于实验的Flip211芯片BGa热机械应力计算研究使用aTC4.2测试车辆