Institute of Microelectronics, 11 Science Park Road, Science Park II, Singapore 117685;
adhesion strength; cu layer; trimethylsilane; cu diffusion liner;
机译:使用低介电常数SiC:H衬里的Cu互连提高Cu层的附着强度
机译:增强Cu / low k多层互连中单层和多层介电膜堆叠上Cu层的附着强度
机译:Cu互连覆盖层和电介质之间的界面粘附能的研究
机译:45纳米节点器件使用多层铜互连的低k(多孔PAr /多孔SiOC(k = 2.3 / 2.3))混合结构的粘合和粘合能提高的研究
机译:用于超低介电常数层间电介质应用的含氟和碳的PECVD膜和类金刚石碳膜的研究。
机译:用于进一步缩小超大型集成器件-Cu互连的等离子增强化学气相沉积SiCH膜的低k覆盖层的材料设计
机译:利用角度分辨光散射在IC器件上的Cu / Low-K互连上具有角度分辨光散射的低k电介质的拉曼信号的增强