首页> 外国专利> Retaining ring with trigger for chemical mechanical polishing apparatus

Retaining ring with trigger for chemical mechanical polishing apparatus

机译:带有触发器的固定环,用于化学机械抛光设备

摘要

A retaining ring for chemical mechanical polishing (CMP) apparatus comprising a body of the retaining ring, and a single trigger cavity, or a plurality of trigger cavities. Each trigger cavity formed inside the body of the retaining ring is filed with gas or fluid, and is configured to indicate that thickness of the retaining ring is less than or equal to a predetermined thickness threshold.
机译:用于化学机械抛光(CMP)设备的保持环,包括保持环的主体和单个触发腔或多个触发腔。形成在保持环的主体内部的每个触发器腔填充有气体或流体,并且被构造成指示保持环的厚度小于或等于预定厚度阈值。

著录项

  • 公开/公告号US6964597B2

    专利类型

  • 公开/公告日2005-11-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 PETER KHUU;

    申请/专利号US20030609064

  • 发明设计人 PETER KHUU;

    申请日2003-06-27

  • 分类号B24B21/18;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:41:26

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号