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Wafer Polishing Velocity Controlling Apparatus, Wafer Polishing Apparatus and Polishing Method Using The Same

机译:晶片抛光速度控制装置,晶片抛光装置及使用该装置的抛光方法

摘要

PURPOSE: A wafer polishing velocity control device, a wafer polishing device, and a wafer polishing method using the same are provided to improve the quality of a semiconductor product by polishing a wafer to uniform thickness. CONSTITUTION: A wafer holder(100) comprises a holder body(110) and a rotary shaft(120) rotating the holder body. A wafer(5) is mounted on the holder body. A polishing pad(210) polishes the wafer while contacting the wafer mounted on the wafer holder. A piezo actuator(300) measures the thickness of the polished wafer. The piezo actuator comprises a piezo element in which an electrode is installed on both sides. A slurry dispenser supplies slurry between the back side of the wafer and the polishing pad.
机译:目的:提供晶片抛光速度控制装置,晶片抛光装置以及使用该装置的晶片抛光方法,以通过将晶片抛光至均匀的厚度来提高半导体产品的质量。构成:晶片支架(100)包括支架主体(110)和旋转支架主体的旋转轴(120)。将晶片(5)安装在保持器主体上。抛光垫(210)在接触安装在晶片支架上的晶片的同时抛光晶片。压电致动器(300)测量抛光晶片的厚度。压电致动器包括压电元件,在该压电元件的两侧均安装有电极。浆料分配器在晶片的背面和抛光垫之间供应浆料。

著录项

  • 公开/公告号KR101225490B1

    专利类型

  • 公开/公告日2013-01-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20110021192

  • 发明设计人 이병수;

    申请日2011-03-10

  • 分类号H01L21/304;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 16:25:51

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