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低阻p-GaN欧姆接触电极制备方法

摘要

一种低阻p-GaN欧姆接触电极制备方法,该方法包括:取一衬底,在衬底上生长一器件外延层;对器件外延层进行表面清洗;采用腐蚀剂将器件外延层表面的氧化物去除;光刻,将光刻板上的图形转移到器件外延层上;在器件外延层的表面生长透明电极层;剥离、退火,使透明电极层发生反应,在透明电极层的表面形成高阻层;将发生反应的透明电极层表面的高阻层去除;在透明电极层的表面依次生长连接层和电极加厚层。

著录项

  • 公开/公告号CN101840964B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-04-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN200910080069.9

  • 发明设计人 林孟喆;曹青;颜庭静;陈良惠;

    申请日2009-03-18

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人汤保平

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-05-03

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 33/00 授权公告日:20120425 终止日期:20160318 申请日:20090318

    专利权的终止

  • 2012-04-25

    授权

    授权

  • 2010-11-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 33/00 申请日:20090318

    实质审查的生效

  • 2010-09-22

    公开

    公开

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