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Two-step deposition of Al-doped ZnO on p-GaN to form ohmic contacts

机译:在p-GaN上两步沉积Al掺杂的ZnO以形成欧姆接触

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摘要

Al-doped ZnO (AZO) thin films were deposited directly on p-GaN substrates by using a two-step deposition consisting of polymer assisted deposition (PAD) and atomic layer deposition (ALD) methods. Ohmic contacts of the AZO on p-GaN have been formed. The lowest sheet resistance of the two-step prepared AZO films reached to 145 Ω/sq, and the specific contact resistance reduced to 1.47 × 10−2 Ω·cm2. Transmittance of the AZO films remained above 80% in the visible region. The combination of PAD and ALD technique can be used to prepare p-type ohmic contacts for optoelectronics.
机译:通过使用由聚合物辅助沉积(PAD)和原子层沉积(ALD)方法组成的两步​​沉积法,将铝掺杂的ZnO(AZO)薄膜直接沉积在p-GaN衬底上。已经形成了p-GaN上的AZO的欧姆接触。两步制备的AZO薄膜的最低薄层电阻达到145Ω/ sq,比接触电阻降低至1.47×10 -2 Ω·cm 2 。在可见光区域,AZO薄膜的透射率保持在80%以上。 PAD和ALD技术的结合可用于制备光电的p型欧姆接触。

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