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P-GaN与ITO欧姆接触的研究

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第一章 绪论

§1.1 GaN基LED的发展

§1.2 铟锡氧化物ITO透明导电薄膜的应用

§1.3主要研究内容

第二章 GaN基LED的制备

§2.1 GaN基LED的工作原理

§2.2 ITO薄膜的基本特性

§2.3 GaN基LED的制作流程

第三章 氧流量和ITO厚度对LED特性的影响

§3.1 L18正交实验设计安排

§3.2 L18正交实验分析

§3.3不同氧流量下制备的LED的光电特性

§3.4不同ITO厚度下制备的LED的光电特性

第四章 ITO退火温度对LED特性的影响

§4.1 不同退火温度对ITO薄膜的影响

§4.2不同退火温度对ITO/P-GaN接触的I-V特性的影响

§4.3 不同退火温度对于制作的LED的特性的影响

第五章 结论

参考文献

致谢

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摘要

本论文针对GaN基发光二极管中P-GaN与透明导电薄膜ITO的接触进行研究,尝试找出透明导电层ITO的优化制程条件。将ITO蒸发时氧流量、ITO厚度及退火温度制备的的透明电极ITO薄膜应用于GaN基发光二极管,来增加电流扩展,减小ITO与P-GaN欧姆接触电阻,降低LED工作电压及提高透过率、增强LED发光亮度。
  本研究中,所采用的ITO薄膜是利用蒸发系统进行沉积生长。针对所得薄膜进行光学与电性分析,通过L18正交试验优化ITO薄膜的蒸发及退火参数,包括蒸发温度、蒸发速率、氧流量、ITO厚度、退火温度、N2流量和退火时间,得到优化参数为:衬底温度320℃,沉积速率6nm/min,氧流量30sccm,ITO厚度200nm,退火温度400℃,N2流量15L/min,退火时间30min,此条件下制得较好光电特性的ITO透明导电薄膜,ITO方块电阻大约为12Ω/□,透光率达到95%以上。
  本论文将ITO薄膜应用于218μm×363μm GaN基发光二极管LED,分析其在20mA工作电流条件下正向电压和光输出功率的变化,在优化条件下制得的蓝光LED在直流电流20mA下的正向电压3.23V,光输出效率为23.25mW。

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