首页> 中国专利> 含有连接表面层和衬底区域的部分SOI结构制造方法

含有连接表面层和衬底区域的部分SOI结构制造方法

摘要

本发明涉及一种用于生产包含表面层(20’),至少一个埋入层(36,46),以及支撑(30)的半导体结构的方法,该方法包括:采用第一材料在第一支撑上形成图形(23)的步骤;在所述图形之间和之上形成半导体层的步骤;组装所述半导体层与第二支撑(30)的步骤。

著录项

  • 公开/公告号CN101401199B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-07-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 S.O.I.TEC绝缘体上硅技术公司;

    申请/专利号CN200780006928.9

  • 发明设计人 B·阿斯帕尔;C·拉加赫-布朗夏尔;

    申请日2007-02-26

  • 分类号

  • 代理机构北京戈程知识产权代理有限公司;

  • 代理人程伟

  • 地址 法国贝尔尼

  • 入库时间 2022-08-23 09:07:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-07-27

    授权

    授权

  • 2010-08-04

    专利申请权的转移 IPC(主分类):H01L 21/762 变更前: 变更后: 登记生效日:20100624 申请日:20070226

    专利申请权、专利权的转移

  • 2009-05-27

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-04-01

    公开

    公开

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