半导体整流器件动态分析仪和质量分析方法

摘要

本发明公开了一种半导体整流器件质量分析仪器和质量分析方法。仪器由工况建立和微型计算机数据处理两大部分组成。采用本仪器和分析方法，是将半导体整流器件置于实际的整流工况中对其反向动态平均电流进行测试和分析。与常规的静态方法相比，能更可靠地预测器件上机时的质量优劣，提供更合理的质量筛选限，并能为改进产品质量提供技术依据。因此，它是整流器件的生产厂和使用厂分析器件质量的有效工具。