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一种利用劳埃镜实现无掩模表面等离子体干涉光刻的装置

摘要

利用劳埃镜实现无掩模表面等离子体干涉光刻的装置,包括调节入射光角度的精密转台,耦合激发表面等离子体干涉的直角梯形棱镜,压紧基片和直角梯形棱镜的压紧装置,固定压紧装置的支架;将直角梯形棱镜一个侧面固定于精密转台上,使P偏振的激光束垂直入射至其斜面,微调精密转台确定激发表面等离子体的实际共振角;将涂有光刻胶的基片置于棱镜底面并调节压紧装置将棱镜和基片压紧;用宽光束以实际共振角入射至棱镜,在金属膜下表面实现表面等离子体干涉并对光刻胶曝光;取下曝光后的基片;对光刻胶后烘、显影,实现表面等离子体干涉光刻;本发明具有成本低廉、工作效率高、加工图形区域面积大、容易装调等优点,还有利于纳米光子晶体和人工材料的研究和应用。

著录项

  • 公开/公告号CN101441421B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-10-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院光电技术研究所;

    申请/专利号CN200810239210.0

  • 发明设计人 方亮;王长涛;刘尧;罗先刚;

    申请日2008-12-04

  • 分类号

  • 代理机构北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人贾玉忠

  • 地址 610209 四川省成都市双流350信箱

  • 入库时间 2022-08-23 09:05:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-01-20

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G03F 7/20 授权公告日:20101020 终止日期:20141204 申请日:20081204

    专利权的终止

  • 2010-10-20

    授权

    授权

  • 2009-07-22

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-05-27

    公开

    公开

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