首页> 中国专利> 用于等离子氮化栅极介电层的氮化后二阶段退火的方法

用于等离子氮化栅极介电层的氮化后二阶段退火的方法

摘要

本发明为一种形成氮氧化硅栅极介电层的方法,该方法包括:利用一等离子氮化制程而将氮并入一介电薄膜中以形成一氮氧化硅薄膜;氮氧化硅薄膜于一第一环境下进行退火,且第一环境包括一于一第一温度下而氧气具有一第一分压的惰性环境;氮氧化硅薄膜于一第二环境下进行退火,且第二环境包括于一第二温度下而氧气具有一第二分压,并且氧气的第二分压大于氧气的第一分压。

著录项

  • 公开/公告号CN101208782B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-05-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 应用材料股份有限公司;

    申请/专利号CN200680022981.3

  • 发明设计人 C·S·奥利森;

    申请日2006-05-26

  • 分类号

  • 代理机构上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人陆嘉

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:04:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-01-04

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 21/31 变更前: 变更后: 申请日:20060526

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2010-05-19

    授权

    授权

  • 2008-08-20

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-06-25

    公开

    公开

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