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MIM电容结构及MIM电容的制备方法

摘要

本发明实施例涉及一种MIM电容的制备方法以及一种MIM电容结构,包括:提供由前段工艺形成的器件结构;在所述器件结构中形成凹槽;形成连续的第一金属结构,所述第一金属结构形成于所述凹槽底部、所述凹槽的侧壁、并延伸至所述凹槽外的器件结构的表面;在所述第一金属结构上形成电容介质结构;在电容介质结构上形成第二金属结构;利用第一光刻掩膜版,去除掉所述第一金属结构、电容介质结构以及第二金属结构的边缘部分,保留形成于所述凹槽内、部分延伸至所述凹槽外的第一金属结构、电容介质结构及第二金属结构,分别作为所述MIM电容的下极板、电容介质层、上极板。

著录项

  • 公开/公告号CN111048489B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 无锡华润上华科技有限公司;

    申请/专利号CN201811197652.3

  • 发明设计人 李春旭;

    申请日2018-10-15

  • 分类号H01L23/64(20060101);

  • 代理机构44224 广州华进联合专利商标代理有限公司;

  • 代理人邓云鹏

  • 地址 214028 江苏省无锡市国家高新技术产业开发区新洲路8号

  • 入库时间 2022-08-23 13:11:14

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