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一种无结型双栅线隧穿场效应晶体管

摘要

本发明属于半导体器件领域,提供一种无结型双栅线隧穿场效应晶体管,用以提升无结型隧穿场效应晶体管开态电流;本发明隧穿场效应晶体管通过源区金属与漏区金属的功函数与沟道区半导体电子亲和势的差值,在未掺杂或轻掺杂的沟道中通过电学掺杂形成P型掺杂特性源区与N型掺杂特性漏区;改变了传统无结型双栅隧穿晶体管上下对称的双栅结构,使顶层金属栅与底层金属栅具备长度差、即非对称双栅结构,在无结型双栅隧穿场效应晶体管的中引入载流子线隧穿,并以线隧穿为主;同时,可通过增加顶层金属栅的延伸长度,缩短底层金属栅长度来增加顶层金属栅与底层金属栅长度差值,增大晶体管的线隧穿面积,提升载流子隧穿几率,有效提升了器件的开态电流。

著录项

  • 公开/公告号CN109755306B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201910023720.2

  • 发明设计人 谢倩;李杰;黄安鹏;王政;

    申请日2019-01-10

  • 分类号H01L29/739(20060101);H01L29/417(20060101);H01L29/423(20060101);

  • 代理机构51203 电子科技大学专利中心;

  • 代理人甘茂

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 12:05:10

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