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pin型GaN雪崩器件p层载流子浓度测量方法

摘要

一种GaN雪崩探测器p层载流子浓度的测量方法,包括如下步骤:在相同的条件下分布生长i层和n层氮化镓,并用金属电极做好欧姆接触,再利用霍尔效应测试对应的i层和n层的载流子浓度;在没有光照情况下,pin型GaN雪崩探测器器件反向偏压时的电流‑电压曲线,并读出电流刚开始呈指数增长时的临界反向电压值;根据泊松方程建立pin型GaN雪崩探测器器件在反向偏压下的电场强度分布图E‑x;依据氮化镓材料刚好雪崩击穿时最大电场强度,结合电场强度分布图,由测得的临界反向电压值反推出p层载流子浓度。本发明的测试方法是一种非消耗性测试方法,可以对试样进行重复检测。

著录项

  • 公开/公告号CN111366832B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN202010394919.9

  • 申请日2020-05-11

  • 分类号G01R31/26(20140101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人孙蕾

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2022-08-23 11:39:22

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