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基于溅射AlN基板的混合极性AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管及其制备方法

摘要

本发明涉及一种基于溅射AlN基板的混合极性AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管及其制备方法,所述制备方法包括:在衬底的预设部分溅射生长AlN基板;在衬底的其余部分和AlN基板上生长AlN成核层;在AlN成核层上生长混合极性GaN缓冲层;在混合极性GaN缓冲层上生长插入层;在插入层上生长混合极性AlGaN势垒层;在衬底的其余部分对应的AlGaN势垒层上蒸发欧姆金属,退火,然后在衬底的其余部分对应的GaN缓冲层上形成源极和漏极,同时在AlN基板对应的AlGaN势垒层上制备栅极,最终完成混合极性AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管的制备。通过这种制备方法,可以得到一种混合极性AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管,在有效减小源极、漏极欧姆接触电阻的基础上,抑制栅极下方材料漏电,从而大幅度提升器件性能。

著录项

  • 公开/公告号CN109559991B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201910054769.4

  • 申请日2019-01-21

  • 分类号H01L21/335(20060101);H01L29/778(20060101);C23C16/34(20060101);C23C14/06(20060101);

  • 代理机构61230 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张捷

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2022-08-23 11:13:56

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