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P-GaN/AlGaN/AlN/GaN enhancement-mode field effect transistor

机译:P-GaN / AlGaN / AlN / GaN增强模式场效应晶体管

摘要

An enhancement mode High Electron Mobility Transistor (HEMT) comprising a p-type nitride layer between the gate and a channel of the HEMT, for reducing an electron population under the gate. The HEMT may also comprise an Aluminum Nitride (AlN) layer between an AlGaN layer and buffer layer of the HEMT to reduce an on resistance of a channel.
机译:增强模式高电子迁移率晶体管(HEMT),包括在HEMT的栅极和沟道之间的p型氮化物层,用于减少栅极下方的电子数量。 HEMT还可在HEMT的AlGaN层和缓冲层之间包括氮化铝(AlN)层,以减小沟道的导通电阻。

著录项

  • 公开/公告号US7728356B2

    专利类型

  • 公开/公告日2010-06-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CHANG SOO SUH;UMESH K. MISHRA;

    申请/专利号US20080131704

  • 发明设计人 UMESH K. MISHRA;CHANG SOO SUH;

    申请日2008-06-02

  • 分类号H01L29/778;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 18:49:12

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