首页> 中国专利> 层转移单晶硅薄膜用籽晶衬底的微接触湿法刻蚀制备方法

层转移单晶硅薄膜用籽晶衬底的微接触湿法刻蚀制备方法

摘要

本发明提供一种层转移单晶硅薄膜用籽晶衬底的微接触湿法刻蚀制备方法,所述方法包括:1)提供第一硅衬底,刻蚀形成硅柱阵列;2)于所述第一硅衬底及硅柱阵列表面形成实现选择性外延生长的阻挡层;3)形成疏水有机分子膜;4)提供第二硅衬底,于所述第二硅衬底表面制作水凝胶薄膜;5)于所述水凝胶薄膜中溶胀刻蚀液;6)将步骤3)获得的结构倒扣于溶胀过刻蚀液的水凝胶薄膜中,刻蚀去除所述硅柱阵列顶端的所述疏水有机分子膜和阻挡层,暴露出硅柱阵列顶端,形成籽晶阵列;7)去除剩余的所述疏水有机分子膜。通过本发明的方法可以制备洁净度高、力学稳定性好且重复利用率高的籽晶衬底,利用该籽晶衬底,后续可以制备高质量的单晶薄晶片。

著录项

  • 公开/公告号CN108242477B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-03-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海高等研究院;

    申请/专利号CN201611228456.9

  • 申请日2016-12-27

  • 分类号

  • 代理机构上海光华专利事务所(普通合伙);

  • 代理人唐棉棉

  • 地址 201210 上海市浦东新区海科路99号

  • 入库时间 2022-08-23 10:53:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-24

    授权

    授权

  • 2018-07-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L31/18 申请日:20161227

    实质审查的生效

  • 2018-07-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 31/18 申请日:20161227

    实质审查的生效

  • 2018-07-03

    公开

    公开

  • 2018-07-03

    公开

    公开

  • 2018-07-03

    公开

    公开

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